Об электронном микроскопе

Об электронном микроскопе, Всего: 200 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Об электронном микроскопе, являются: Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Словари, Метрология и измерения в целом, Качество воздуха, Строительные материалы, Сварка, пайка и пайка, Линейные и угловые измерения, Образование, Электронные компоненты в сборе, Медицинское оборудование, Электронные компоненты в целом, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Полупроводниковые приборы, Испытание металлов, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры, Условия и процедуры испытаний в целом, Электронные устройства отображения, Обработка поверхности и покрытие, Технические рисунки, Краски и лаки, Неразрушающий контроль.

GSO, Об электронном микроскопе

GSO ISO 8036:2015 Оптика и фотоника. Микроскопы. Жидкости иммерсионные для световой микроскопии.
OS GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BH GSO ISO 25498:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
OS GSO ISO 15932:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
GSO ISO 15932:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
BH GSO ISO 15932:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
OS GSO ISO 8036:2015 Оптика и фотоника. Микроскопы. Жидкости иммерсионные для световой микроскопии.
GSO ISO 8038:2015 Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов.
BH GSO ISO 8038:2016 Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов.
GSO ISO 18221:2021 Микроскопы. Микроскопы с цифровыми дисплеями изображений. Информация, предоставляемая пользователю относительно характеристик визуализации.
BH GSO ISO 18221:2022 Микроскопы. Микроскопы с цифровыми дисплеями изображений. Информация, предоставляемая пользователю относительно характеристик визуализации.
GSO ISO 13095:2015 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур.
GSO ISO/TS 24597:2013 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
OS GSO ISO/TS 24597:2013 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
GSO ISO 9220:2013 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GSO ISO 3057:2013 Неразрушающий контроль. Методы металлографического исследования поверхности.

Professional Standard - Machinery, Об электронном микроскопе

JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа

British Standards Institution (BSI), Об электронном микроскопе

18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
24/30479937 DC BS ISO 25498 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
BS ISO 21073:2019 Микроскопы. Конфокальные микроскопы. Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для биологической визуализации
BS ISO 19214:2024 Микролучевой анализ. Аналитический электронный микроскоп. Метод определения видимого направления роста нанокристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
18/30339977 DC BS ISO 21073. Микроскопы. Конфокальные микроскопы. Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для биологической визуализации
24/30474499 DC BS ISO 19214 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов методом просвечивающей электронной микроскопии
BS ISO 11884-2:2007 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Высокопроизводительные микроскопы
BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
BS ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Стереомикроскопы общего назначения.
BS ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BS ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
24/30466833 DC BS ISO 18221 Микроскопы. Микроскопы с цифровыми дисплеями изображений. Информация, предоставляемая пользователю относительно характеристик визуализации.
BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
BS EN ISO 14880-1:2005 Оптика и фотоника - Микролинзовая решетка - Словарь
BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
BS ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа

International Organization for Standardization (ISO), Об электронном микроскопе

ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO/DIS 25498:2024 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
ISO 18221:2016 Микроскопы. Микроскопы с цифровыми дисплеями изображений. Информация, предоставляемая пользователю относительно характеристик визуализации.
ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 19214:2024 Микролучевой анализ — Аналитическая электронная микроскопия — Метод определения видимого направления роста нанокристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ISO 8036:2015 Plus Redline Микроскопы — иммерсионные жидкости для световой микроскопии (включая версию Redline)
ISO 8038:2011 Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов.
ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/CD 18221:2023 Микроскопы. Микроскопы с цифровыми дисплеями изображений. Информация, предоставляемая пользователю относительно характеристик визуализации.
ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO/DIS 18221:2024 Микроскопы. Микроскопы с цифровыми дисплеями для визуализации. Информация, предоставляемая пользователю относительно характеристик визуализации.
ISO 11884-2:2007 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 1. Стереомикроскопы общего назначения.
ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.
ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Об электронном микроскопе

JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

SCC, Об электронном микроскопе

BS ISO 8038:2011 Микроскопы. Резьба для объективов и револьверов к ним
BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
06/30128226 DC ISO 22493. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
12/30245653 DC BS ISO 15932. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарный запас
13/30272924 DC BS ISO 8038. Микроскопы. Резьба для объективов и револьверов к ним
10/30199404 DC BS ISO 8038. Микроскопы. Резьба для объективов и револьверов к ним
AENOR UNE 7108:1957 ПОДГОТОВКА ОБРАЗЦОВ «КЛИНКЕРА» И ПОРТЛАНДСКОГО ЦЕМЕНТА ДЛЯ НАБЛЮДЕНИЯ ПОД МИКРОСКОПОМ
BS ISO 19012-2:2009 Оптика и фотоника. Обозначение объективов микроскопа-Хроматическая коррекция
VDI 3866 BLATT 5-2017 Определение асбеста в технических изделиях — метод сканирующей электронной микроскопии.
13/30203227 DC BS ISO 13083. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения сканирующей микроскопии сопротивления растеканию и сканирующей емкостной микроскопии
08/30138435 DC BS ISO 24597. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Об электронном микроскопе

KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-2019 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS B 5605-2020 Биологические микроскопы для погружных объективов
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS B ISO 11884-2-2011(2021) Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS B ISO 11884-2-2011(2016) Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS B 5611-2019 Биологические микроскопы для сухих объективов
KS B ISO 11884-2:2011 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS B ISO 11884-2-2021 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS P ISO 10936-2:2020 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
KS D ISO 16700-2023 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
KS B 5618-2018 Сетчатый микрометр для биологического микроскопа
KS P ISO 10936-2-2020 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
KS B 5617-2018 Предметный микрометр для биологического микроскопа
KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа

Association Francaise de Normalisation, Об электронном микроскопе

NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
NF S10-500*NF ISO 21073:2020 Микроскопы - Конфокальные микроскопы - Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для биологических изображений
NF ISO 21073:2020 Микроскопы - Конфокальные микроскопы - Оптические данные конфокальных флуоресцентных микроскопов для биологических изображений
NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Об электронном микроскопе

JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

Professional Standard - Education, Об электронном микроскопе

JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Об электронном микроскопе

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Group Standards of the People's Republic of China, Об электронном микроскопе

T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа
T/QGCML 1940-2023 Устройство для высокотемпературных механических испытаний сканирующего электронного микроскопа in-situ
T/CSP 13-2024 Технология частиц — Анализ субмикронной и нанометровой гетероструктуры — Просвечивающая электронная микроскопия
T/BSPT 6-2024 Технология частиц — Анализ субмикронной и нанометровой гетероструктуры — Просвечивающая электронная микроскопия
T/SPSTS 030-2023 Измерение размера листа графенового материала с помощью сканирующей электронной микроскопии

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Об электронном микроскопе

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Об электронном микроскопе

GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии
GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа

Association of German Mechanical Engineers, Об электронном микроскопе

DVS 2803-1974 Электронно-лучевая сварка в микроскопии (обзор)
DVS 2801-1968 Контактная сварка в микроскопии (обследование)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Об электронном микроскопе

ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM D7201-06(2020) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM D7201-06(2011) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2024) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом

Military Standards (MIL-STD), Об электронном микроскопе

DOD A-A-54873-1993 КОРОБКИ, ПРЕДМЕТНЫЕ ПРЕДМЕТЫ ДЛЯ МИКРОСКОПА, ПЛАСТИКОВЫЕ
DOD A-A-53609-1988 ЩИПЦЫ, ПОКРЫТИЕ МИКРОСКОПА

Bureau of Indian Standards, Об электронном микроскопе

IS 13108-2019 Оптика и фотоника — Микроскопы — Иммерсионные жидкости для световой микроскопии (вторая редакция)

PT-IPQ, Об электронном микроскопе

NP 303-1963 Микрокопии. Терминология и определения

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Об электронном микроскопе

IPC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов
IPC TM-650 2.6.22-1995 Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах

Professional Standard - Medicine, Об электронном микроскопе

YY 1296-2016 Оптические и фотонные хирургические микроскопы Фотоопасность офтальмологических хирургических микроскопов

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Об электронном микроскопе

GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Gosstandart of Russia, Об электронном микроскопе

GOST 21006-1975 Электронные микроскопы. Термины, определения и буквенные обозначения

German Institute for Standardization, Об электронном микроскопе

DIN 58272:2009 Медицинские инструменты - Микроскопические щипцы, мелкий рисунок.
DIN 58272:2016 Медицинские инструменты - Микроскопические щипцы, мелкий рисунок.
DIN 58272:1983 Медицинские инструменты; микроскопические щипцы, мелкий рисунок
DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)

International Electrotechnical Commission (IEC), Об электронном микроскопе

IEC PAS 62191:2000 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Об электронном микроскопе

DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

国家能源局, Об электронном микроскопе

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Professional Standard - Petroleum, Об электронном микроскопе

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Об электронном микроскопе

JEDEC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов в капсулах

VE-FONDONORMA, Об электронном микроскопе

NORVEN 84-1-1963 Термины и определения, связанные с микроскопом

工业和信息化部, Об электронном микроскопе

YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Об электронном микроскопе

DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок

Professional Standard - Judicatory, Об электронном микроскопе

SF/T 0139-2023 Исследование почвы сканирующим электронным микроскопом/рентгеновской энергетической спектрометрией

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Об электронном микроскопе

CNS 2910-2008 Метод микроскопического контроля неметаллических включений в стали.

未注明发布机构, Об электронном микроскопе

AMPP Paper 16610-2021 Исследования механизма адсорбции органических ингибиторов с помощью атомно-силовой микроскопии in situ в контактном режиме
NACE Paper 14792-2020 Атомно-силовая микроскопия in situ и электрохимические измерения органических ингибиторов на мягкой стали

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Об электронном микроскопе

VDI 3866 Blatt 5-2003 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
VDI 3866 BLATT 5-2015 Лучшая иммунизация асбеста в технических продуктах - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren

Danish Standards Foundation, Об электронном микроскопе

DANSK DS/ISO 9220:2022 Металлические покрытия – Измерение толщины покрытия – Метод сканирующего электронного микроскопа
DS/ISO 10936-2:2010 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.

Professional Standard - Commodity Inspection, Об электронном микроскопе

SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Об электронном микроскопе

SPB-M6-3-2010 Апрель 08: Атомно-силовая микроскопия (основы техники)

SE-SIS, Об электронном микроскопе

SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.