KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп - Стандарты и спецификации PDF

KS D 2716-2008
Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп

Стандартный №
KS D 2716-2008
Дата публикации
2008
Разместил
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
состояние
быть заменен
KS D 2716-2008(2018)
Последняя версия
KS D 2716-2023
 

сфера применения
В этом стандарте используется трансмиссионный электронный микроскоп для измерения сферических металлических наночастиц, взвешенных в воздухе или во вспомогательных веществах.

KS D 2716-2008 История

  • 2023 KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
  • 0000 KS D 2716-2008(2018)
  • 2008 KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

KS D 2716-2008(2018 Измерение диаметра наночастицПросвечивающий электронный микроскоп KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастицПросвечивающий электронный микроскоп DIN EN ISO 21363 E:2021-09 Нанотехнологическое измерение распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии (проект ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа BS ISO 21363:2020 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии UNI EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения размеров и формы частиц методом просвечивающей электронной микроскопии BS 3406-4:1993 Методы определения гранулометрического состава - Руководство по методам микроскопии и анализа изображений



© 2025. Все права защищены.