GSO ISO/TS 24597:2013
Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.

Стандартный №: GSO ISO/TS 24597:2013
Дата публикации: 2013
Разместил: GCC Standardization Organization
Последняя версия: GSO ISO/TS 24597:2013

сфера применения: Настоящие технические условия определяют методы оценки резкости цифровых изображений, генерируемых сканирующим электронным микроскопом (СЭМ), с помощью метода преобразования Фурье (FT), метода контраста-градиента (CG) и метода производной (DR).

GSO ISO/TS 24597:2013 История

2013 GSO ISO/TS 24597:2013 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.

Специальные темы по стандартам и нормам

Метод электронной микроскопии изображений Методы подготовки образцов для электронной микроскопии СЭМ-анализ углерода СЭМ-анализ углерода При анализе с помощью сканирующего электронного микроскопа Электронно-микроскопический анализ 6 Анализ двух сканирующих электронных микроскопов Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа Электронный микроскоп «Пять контрастов» СЭМ-анализ Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа Аналитический SEM Как

стандарты и спецификации

OS GSO ISO/TS 24597:2013 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения. ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения. XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения 08/30138435 DC BS ISO 24597. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов DIN EN ISO 19749:2022-12 Структурные клеи. Определение срока годности (срока годности) многокомпонентных клеев (ISO/DIS 10364:2022); Немецкая и английская версия prEN ISO 10364:2022 KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения BS ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической

© 2025. Все права защищены.