Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа, Всего: 95 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа, являются: Аналитическая химия, Словари, Образование, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Текстильные волокна, Строительные материалы, Физика. Химия, Линейные и угловые измерения, Обработка поверхности и покрытие, Цветные металлы, Обувь.

International Organization for Standardization (ISO), Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
ISO 11039:2012 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности - формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
ISO 22493:2014 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 36052-2018 Химический анализ поверхности — формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии.

GSO, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GSO ISO/TS 24597:2013 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
OS GSO ISO/TS 24597:2013 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
GSO ISO 11039:2014 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
OS GSO ISO 11039:2014 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
BH GSO ISO 11039:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
GSO ISO 28600:2013 Химический анализ поверхности. Формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии.
BH GSO ISO 28600:2016 Химический анализ поверхности. Формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии.

SCC, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
06/30128226 DC ISO 22493. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
13/30203227 DC BS ISO 13083. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения сканирующей микроскопии сопротивления растеканию и сканирующей емкостной микроскопии
08/30138435 DC BS ISO 24597. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения
10/30199182 DC BS ISO 11039. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа
AWWA ACE56156 Оценка характера загрязнения поверхности мембран с помощью планшетного сканера и сканирующего электронного микроскопа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D ISO 16700-2023 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-2019 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы

Professional Standard - Education, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
JY/T 0582-2020 Общие правила проведения аналитических методов сканирующей зондовой микроскопии
JY/T 0586-2020 Общие правила аналитических методов лазерной сканирующей конфокальной микроскопии

Professional Standard - Petroleum, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа

国家能源局, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

British Standards Institution (BSI), Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
BS ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарный запас. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности. Формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
BS ISO 22493:2014 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

DB44/T 1527-2015 Микролучевой анализ Метод оценки четкости изображения сканирующего электронного микроскопа

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий
GB/T 27788-2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.
GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
GB/T 14593-2008 Метод количественного анализа кашемира, шерсти и их смесей. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.
GB/T 16594-1996 Измерение длины в микронах с помощью SEM
GB/T 31563-2015 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 23414-2009 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

GB/T 27788-2020 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

DB32/T 4546-2023 Технические условия на автоматизированный просмотр изображений диатомей с использованием сканирующих электронных микроскопов

Association Francaise de Normalisation, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
NF X21-069-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Часть 2: термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
JIS K 0147-2:2017 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.

Professional Standard - Machinery, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Professional Standard - Commodity Inspection, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.
DB35/T 1778-2018 Метод сканирования и анализа измерения формы стопы

Group Standards of the People's Republic of China, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

T/SPSTS 032-2023 Общие технические условия на сканирующую электрохимическую микроскопию
T/CSTM 00795-2022 Материалы экспериментальных данных. Требования к изображениям сканирующего электронного микроскопа.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

GJB 2666A-2018 Спецификация для сканирования отражающих бериллиевых зеркал
GJB 2666-1996 Спецификация для сканирования отражающих бериллиевых зеркал

American Society for Testing and Materials (ASTM), Анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа

ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа