KS D ISO 16700-2023
Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

Стандартный №: KS D ISO 16700-2023
Дата публикации: 2023
Разместил: Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Последняя версия: KS D ISO 16700-2023

Введение: Данное стандартное руководство предназначено для помощи в калибровке увеличения изображений при использовании сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) для микронаучных анализов. Оно предоставляет методы и процедуры для обеспечения точности измерений, проводимых с помощью СЭМ.

*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.

KS D ISO 16700-2023 История

2023 KS D ISO 16700-2023 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
0000 KS D ISO 16700-2013(2018)
2013 KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
0000 KS D ISO 16700:2007

Специальные темы по стандартам и нормам

сканирующая микроскопия сканирующий микроскоп Калибровка хирургического микроскопа сканирующий электронный микроскоп первичный электрон Разрешение сканирующего электронного микроскопа 0 1 нм Анализ сканирующей электронной микроскопии Как анализировать сканирующий электронный микроскоп Что анализирует сканирующая электронная микроскопия? сканирующий микроскоп изображений Центральный двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Как анализировать сканирующий электронный микроскоп

стандарты и спецификации

JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения. ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения. ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения. BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения. NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения. BS ISO 16700:2016 анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической

© 2025. Все права защищены.