JB/T 9352-1999
Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- JB/T 9352-1999
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1999
- Разместил
- Professional Standard - Machinery
- состояние
- 2010-02
- Последняя версия
- JB/T 9352-1999
- сфера применения
- Настоящий стандарт определяет методы испытаний для просвечивающей электронной микроскопии. Настоящий стандарт применим к проверке работоспособности узла просвечивающего электронного микроскопа.
JB/T 9352-1999 История
- 1999 JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
Специальные темы по стандартам и нормам
электронный микроскоп вакуумный
Просвечивающая электронная микроскопия 2
нить электронного микроскопа
Поле ТЕМ
Сколько раз просвечивающий электронный микроскоп
Просвечивающая 2 электронная микроскопия
Контраст просвечивающей электронной микроскопии
Электронный компонентный микроскоп
Требования к образцам для трансмиссионной электронной микроскопии
Просвечивающий электронный микроскоп 30 раз
Полевая трансмиссионная электронная микроскопия
Ящик для образцов ПЭМ
стандарты и спецификации
JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа
GB/T 20307-2006 Общие правила измерения длины в нанометровом масштабе с помощью SEM
GB/T 23414-2009 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/T 43610-2023 Метод просвечивающей электронной микроскопии для определения кажущегося направления роста линейных кристаллов с использованием микролучевого анализа и электронной микроскопии.
GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
GB/T 33838-2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
GB/T 40300-2021 Микролучевой анализ — Аналитическая электронная микроскопия — Словарь
KS I 0051-2019 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
GB/T 27788-2020 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии