GB/T 18907-2013
Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа. (Англоязычная версия)

Стандартный №: GB/T 18907-2013
язык: Китайский, Доступно на английском
Дата публикации: 2013
Разместил: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия: GB/T 18907-2013
заменять: GB/T 18907-2002

сфера применения: Настоящий стандарт определяет метод электронографического анализа выбранной области микронных и субмикронных областей тонких кристаллических образцов с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). Образцы для испытаний могут быть получены из тонких срезов различных металлических или неметаллических материалов, а также могут быть использованы мелкодисперсные порошки или извлеченные образцы-копии. Минимальный диаметр выбранной области образца, которую можно проанализировать этим методом, зависит от коэффициента сферической аберрации объектива микроскопа. Для современных ТЭМ минимальный диаметр выделенного участка образца обычно может достигать 0,5 мкм. При диаметре анализируемой области образца менее 0,5 мкм все еще можно использовать метод анализа настоящего стандарта, но из-за влияния сферической аберрации часть информации о дифракционном спектре может поступать извне. область, ограниченная выбранной диафрагмой. В этом случае, если позволяют условия, лучше всего использовать микро (нано) дифракцию или дифракцию электронов сходящимся пучком. Успешное применение выбранного метода зональной электронографии зависит от правильной калибровки полученного показателя дифракционного спектра независимо от того, ось какой кристаллической зоны образца параллельна падающему электронному пучку. Поэтому такой анализ часто требует использования устройства наклона и вращения образца. Этот стандарт применим для получения спектра SAED из образца кристалла, калибровки показателя дифракционного спектра и калибровки константы дифракции электронного микроскопа.

GB/T 18907-2013 Ссылочный документ

ISO/IEC 17025 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий [Стандарт на французском языке]*， 2017-11-01 Обновление

GB/T 18907-2013 История

2013 GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
2002 GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов

Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.

Специальные темы по стандартам и нормам

Сколько раз просвечивающий электронный микроскоп Электрон для ТЭМ Просвечивающий электронный микроскоп 30 раз Просвечивающая электронная микроскопия с ТЕМ ТЕМ ТЕМ ТЕМ Сколько раз просвечивающий электронный микроскоп Дифракция электронов и дифракция электронов ТЕМ-электрон ТЭМ ТЭМ ТЭМ и ТЭМ

стандарты и спецификации