ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера. - Стандарты и спецификации PDF

ISO 23729:2022
Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.

Стандартный №
ISO 23729:2022
Дата публикации
2022
Разместил
International Organization for Standardization (ISO)
Последняя версия
ISO 23729:2022
 

сфера применения

Анализ основного содержания стандарта

ISO 23729:2022 устанавливает систематическую структуру восстановления искажений изображения, вызванных ограниченным размером зонда атомно-силовой микроскопии (АСМ). Основанный на математической теории морфологии, стандарт обеспечивает точную реконструкцию трёхмерного рельефа с помощью вычислительной модели расширения-эрозии.


Ключевые технические моменты

1. Математическое морфологическое моделирование

Для описания влияния формы зонда на визуализацию в стандарте используется формула I = S ⊕ P, где:

  • I — измеренная функция изображения
  • S — истинная функция морфологии поверхности
  • P — функция формы отражения зонда

Процесс реконструкции достигается посредством операции коррозии Sr = I ⊖ P. В стандарте особо подчеркивается существование нереконструируемых областей (как показано на рисунке 1).


Сравнение методов характеризации зондов

Тип метода Эталонный материал Точность Применимые сценарии
Метод сертифицированного эталонного материала Структура наносферы/проволочной сетки ±1 нм Известные особенности формы
Метод слепой реконструкции Пористый оксид алюминия ±3 нм Неизвестная сложная поверхность

Ключевые моменты для внедрения стандарта

  1. Калибровка системы: Пьезоэлектрический сканер оси XYZ необходимо регулярно калибровать (согласно ISO 11952).
  2. Контроль окружающей среды: Колебание температуры должно быть ≤1°C (пункт 6.3).
  3. Характеристика зонда: Радиус кривизны R должен быть проверен с помощью FE-SEM (Приложение B).
  4. Проверка сохранения высоты: Отклонение высоты наноострия до и после реконструкции должно составлять <0,5%

Анализ развития технологий

По сравнению с предыдущим стандартом ISO 13095:2014, нововведения этого стандарта включают в себя:

  • Введение Итеративный алгоритм слепой реконструкции (Формулы 8–10)
  • Добавление пористого оксида алюминия в качестве стандартного эталонного материала
  • Создание процесса межлабораторного сравнения и проверки VAMAS

ISO 23729:2022 Ссылочный документ

  • ISO 11775 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
  • ISO 11952 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
  • ISO 18115-2 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.

ISO 23729:2022 История

  • 2022 ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.
Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

BS ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера 21/30412880 DC . Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера UNI ISO 19606:2025 BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового PD ISO/TS 23151:2021 Нанотехнологии. Распределение частиц по размерам нанокристаллов целлюлозы ISO/TS 23151:2021 Нанотехнологии — Гранулометрический состав нанокристаллов целлюлозы ISO 19606:2017 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии



© 2025. Все права защищены.