Калибровка атомно-силовой микроскопии

Калибровка атомно-силовой микроскопии, Всего: 160 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Калибровка атомно-силовой микроскопии, являются: Аналитическая химия, Физика. Химия, Условия и процедуры испытаний в целом, Корма для животных, Линейные и угловые измерения, Материалы для аэрокосмического строительства, Термодинамика и измерения температуры, Оптическое оборудование, Цветные металлы, Оптика и оптические измерения, Керамика, Атомная энергетика, Качество воздуха, Фармацевтика, Специи и приправы. Пищевые добавки, Кожаные технологии, Защита от преступности, Словари, Испытание металлов, Текстильные волокна, Медицинское оборудование, Метрология и измерения в целом, Системы и компоненты аэрокосмических жидкостей, Строительные материалы, Сварка, пайка и пайка.

International Organization for Standardization (ISO), Калибровка атомно-силовой микроскопии

ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.
ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
ISO/TS 21310:2020 Традиционная китайская медицина — микроскопическое исследование лекарственных трав.
ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/DIS 25498:2024 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 19214:2024 Микролучевой анализ — Аналитическая электронная микроскопия — Метод определения видимого направления роста нанокристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ISO 17131:2012 Кожа - Идентификация кожи с помощью микроскопии.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 20705:2019 Текстиль. Количественный микроскопический анализ. Общие принципы испытаний.
ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
ISO 7542:1984 молотая (порошковая) паприка (Capsicum annuum Linnaeus); Микроскопическое исследование
ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
ISO 11884-2:2007 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 13095:2014 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур.
ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 1. Стереомикроскопы общего назначения.

British Standards Institution (BSI), Калибровка атомно-силовой микроскопии

BS ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
21/30412880 DC BS ISO 23729. Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS ISO 19214:2024 Микролучевой анализ. Аналитический электронный микроскоп. Метод определения видимого направления роста нанокристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
BS ISO 11884-2:2007 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Высокопроизводительные микроскопы
BS ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Стереомикроскопы общего назначения.
BS ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
24/30474499 DC BS ISO 19214 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов методом просвечивающей электронной микроскопии
24/30479937 DC BS ISO 25498 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS ISO 13095:2014 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур

GSO, Калибровка атомно-силовой микроскопии

GSO ISO 13095:2015 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур.
OS GSO ISO 8036:2015 Оптика и фотоника. Микроскопы. Жидкости иммерсионные для световой микроскопии.
GSO ISO 8036:2015 Оптика и фотоника. Микроскопы. Жидкости иммерсионные для световой микроскопии.
OS GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BH GSO ISO 25498:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
OS GSO ISO 15932:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
BH GSO ISO 15932:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
GSO ISO 15932:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Калибровка атомно-силовой микроскопии

SPB-M6-3-2010 Апрель 08: Атомно-силовая микроскопия (основы техники)
SPB-M2-1-2007 Межфазные и реологические свойства асфальтенов изучены методом атомно-силовой микроскопии.
SPB-M6-1-2010 Апрель 08: Межфазные и реологические свойства асфальтенов, исследованные с помощью АСМ.
SPB-M14-1-2010 10 сентября: Взаимодействия и реологические свойства асфальтенов, изученные с помощью атомно-силовой микроскопии.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Калибровка атомно-силовой микроскопии

JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа
JJG 904-1996 Регламент проверки микроскопа для чтения
JJG(教委) 14-1992 Правила поверки металлографических микроскопов
JJG(教委) 012-1996 Регламент поверки металлографического микроскопа
JJG 77-2006 Регламент поверки интерференционных микроскопов
JJG 77-1983 Регламент поверки интерференционного микроскопа
JJG(航天) 50-1988 Правила калибровки инструментальных микроскопов
JJG(教委) 13-1992 Правила поверки высокотемпературной микроскопии
JJG 56-2000 Регламент поверки универсальных измерительных микроскопов и микроскопов производителей
JJG 571-1988 Регламент поверки измерительного микроскопа

Group Standards of the People's Republic of China, Калибровка атомно-силовой микроскопии

T/CSTM 00003-2019 Измерение толщины двумерных материалов Атомно-силовая микроскопия (АСМ)
T/GDASE 0008-2020 Определение модуля Юнга графеновой пленки
T/QGCML 1940-2023 Устройство для высокотемпературных механических испытаний сканирующего электронного микроскопа in-situ
T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Калибровка атомно-силовой микроскопии

GB/T 32189-2015 Атомно-силовая микроскопия. Исследование шероховатости поверхности монокристаллической подложки нитрида галлия.
GB/T 31227-2014 Метод контроля шероховатости поверхности атомно-силовым микроскопом напыленных тонких пленок
GB/T 28872-2012 Методика испытаний магнитно-слабоударного атомно-силового микроскопа для нанотопографии живых клеток
GB/T 14698-2002 Метод испытания кормовой микроскопии
GB/T 32731-2016 Молотая паприка.Микроскопическое исследование
GB/T 27760-2011 Метод испытаний для калибровки z-увеличения атомно-силового микроскопа на субнанометровых уровнях смещения с использованием одноатомных ступеней Si(111)
GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Калибровка атомно-силовой микроскопии

GB/T 14698-2017 Метод идентификации исходного материала с помощью микроскопии
GB/T 34269-2017 Атлас микроскопического исследования кормов
GB/T 32262-2015 Подготовка образца дезоксирибонуклеиновой кислоты для измерения с помощью атомно-силового микроскопа
GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

Gosstandart of Russia, Калибровка атомно-силовой микроскопии

GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST 8.003-1983 Государственная система обеспечения единства измерений. Инструментальные микроскопы. Методы и средства проверки
GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
GOST 21006-1975 Электронные микроскопы. Термины, определения и буквенные обозначения

American Society for Testing and Materials (ASTM), Калибровка атомно-силовой микроскопии

ASTM E285-08(2015) Стандартный метод испытаний теплоизоляционных материалов ацетиленовой абляцией
ASTM E2859-11(2017) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2859-11(2023) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2859-11 Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM E2530-06 Стандартная практика калибровки Z-увеличения атомно-силового микроскопа на субнанометровых уровнях смещения с использованием моноатомных ступеней Si(111)
ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии

Professional Standard - Machinery, Калибровка атомно-силовой микроскопии

JB/T 7398.13-1994 Предметы для микроскопов и биологических микроскопов
JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа

German Institute for Standardization, Калибровка атомно-силовой микроскопии

DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN 58878:1978 Цветовое обозначение объективов для микроскопов
DIN 58272:2009 Медицинские инструменты - Микроскопические щипцы, мелкий рисунок.
DIN 58272:1983 Медицинские инструменты; микроскопические щипцы, мелкий рисунок
DIN 58272:2016 Медицинские инструменты - Микроскопические щипцы, мелкий рисунок.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Калибровка атомно-силовой микроскопии

KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D 2714-2021 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS B 5603-1990(2016) Образцы для микроскопических испытаний
KS B ISO 15227-2023 Оптика и оптические приборы — Микроскопы — Испытание стереомикроскопов
KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS B ISO 11884-2-2011(2021) Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS B ISO 11884-2-2011(2016) Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS B ISO 11884-2:2011 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS B ISO 11884-2-2021 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS I 0051-2019 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Калибровка атомно-силовой микроскопии

GB/T 40066-2021 Нанотехнологии — Измерение толщины оксида графена — Атомно-силовая микроскопия (АСМ).
GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

HU-MSZT, Калибровка атомно-силовой микроскопии

MNOSZ 4017-1954 Исследование скретч-микроскопа
MNOSZ 3646-1954 Микробиологическое исследование образцов пищевых продуктов. Микроскопический осмотр
MSZ 2657-1966 Микроскопия гранулометрического анализа
MSZ 3282-1968 Определение температуры плавления микроскопическими и микроскопическими методами.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Калибровка атомно-силовой микроскопии

JIS R 1683:2014 Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии
JIS R 1683:2007 Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии
JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.

Professional Standard - Nuclear Industry, Калибровка атомно-силовой микроскопии

EJ/T 20176-2018 Метод измерения остроты кромки алмазного инструмента с помощью атомно-силового микроскопа

Professional Standard - Agriculture, Калибровка атомно-силовой микроскопии

GB/T 14698-2017(XG1-2019) Метод микроскопического контроля кормового сырья «Поправка №1»
GB/T 14698-1993 Метод микроскопического исследования кормов

American Water Works Association (AWWA), Калибровка атомно-силовой микроскопии

AWWA WQTC71603 Исследование влияния качества воды на начальное развитие корродирующей меди методом атомно-силовой микроскопии

未注明发布机构, Калибровка атомно-силовой микроскопии

AMPP Paper 16610-2021 Исследования механизма адсорбции органических ингибиторов с помощью атомно-силовой микроскопии in situ в контактном режиме
NACE Paper 14792-2020 Атомно-силовая микроскопия in situ и электрохимические измерения органических ингибиторов на мягкой стали

Professional Standard - Military and Civilian Products, Калибровка атомно-силовой микроскопии

WJ 2293-1995 Правила поверки тестера температуры плавления температурной платформы микроскопа

Professional Standard - Business, Калибровка атомно-силовой микроскопии

SB/T 10274-1996 Атлас микроскопического исследования кормов

Military Standards (MIL-STD), Калибровка атомно-силовой микроскопии

DOD A-A-54873-1993 КОРОБКИ, ПРЕДМЕТНЫЕ ПРЕДМЕТЫ ДЛЯ МИКРОСКОПА, ПЛАСТИКОВЫЕ
DOD A-A-53609-1988 ЩИПЦЫ, ПОКРЫТИЕ МИКРОСКОПА

Bureau of Indian Standards, Калибровка атомно-силовой микроскопии

IS 13108-2019 Оптика и фотоника — Микроскопы — Иммерсионные жидкости для световой микроскопии (вторая редакция)

Professional Standard - Judicatory, Калибровка атомно-силовой микроскопии

SF/T 0139-2023 Исследование почвы сканирующим электронным микроскопом/рентгеновской энергетической спектрометрией

Professional Standard - Medicine, Калибровка атомно-силовой микроскопии

YY 1296-2016 Оптические и фотонные хирургические микроскопы Фотоопасность офтальмологических хирургических микроскопов

Association Francaise de Normalisation, Калибровка атомно-силовой микроскопии

NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
NF G06-008*NF EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный микроскопический анализ. Общие принципы тестирования.
NF EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный анализ с помощью микроскопа. Общие принципы тестирования.

SCC, Калибровка атомно-силовой микроскопии

BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
06/30128226 DC ISO 22493. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас

Professional Standard - Commodity Inspection, Калибровка атомно-силовой микроскопии

SN/T 0297-1993 Правила проверки биологического микроскопа на экспорт

国家进出口商品检验局, Калибровка атомно-силовой микроскопии

SN 0297-1993 «Правила инспекции экспортного биологического микроскопа»

IT-UNI, Калибровка атомно-силовой микроскопии

UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.

European Committee for Standardization (CEN), Калибровка атомно-силовой микроскопии

EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный микроскопический анализ. Общие принципы испытаний (ISO 20705:2019)

Professional Standard - Education, Калибровка атомно-силовой микроскопии

JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Калибровка атомно-силовой микроскопии

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Society of Automotive Engineers (SAE), Калибровка атомно-силовой микроскопии

SAE ARP598C-2003 (R) Аэрокосмическая микроскопия определения размеров и подсчета твердых частиц в гидроэнергетических системах

Danish Standards Foundation, Калибровка атомно-силовой микроскопии

DS 2011:1985 Микрометры. Внешние микрометры стандартного исполнения. Термины и определения, требования, тестирование

Association of German Mechanical Engineers, Калибровка атомно-силовой микроскопии

DVS 2803-1974 Электронно-лучевая сварка в микроскопии (обзор)