ASTM E2382-04(2012)
Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии

Стандартный №

ASTM E2382-04(2012)

Дата публикации

2004

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

состояние

быть заменен

быть заменен

ASTM E2382-04(2020)

Последняя версия

ASTM E2382-04(2020)

сфера применения

1.1 Все микроскопы подвержены артефактам. Цель этого документа — предоставить описание часто наблюдаемых артефактов в сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и атомно-силовой микроскопии (АСМ), связанных с движением зонда и геометрическими соображениями взаимодействия зонда и поверхности, предоставить ссылки на литературные примеры и, где Возможно, предложить интерпретацию источника артефакта. Поскольку сфера сканирующей зондовой микроскопии активно развивается, этот документ не претендует на то, чтобы быть всеобъемлющим, а скорее служит руководством для практикующих микроскопистов относительно возможных ловушек, которые можно ожидать. Способность распознавать артефакты должна помочь в надежной оценке работы прибора и предоставлении данных.

1.2 Здесь будет определен ограниченный набор терминов. Полное описание терминологии, относящейся к описанию, работе и калибровке приборов СТМ и АСМ, выходит за рамки данного документа.

1.3 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены.

ASTM E2382-04(2012) История

• 2020 ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
• 2004 ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
• 2004 ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации