ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом - Стандарты и спецификации PDF

ASTM E3143-18a
Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом

Стандартный №
ASTM E3143-18a
Дата публикации
2018
Разместил
American Society for Testing and Materials (ASTM)
состояние
быть заменен
ASTM E3143-18b
Последняя версия
ASTM E3143-18b(2023)
 

Введение
Данный стандарт описывает процедуры, используемые для реализации стандартов, относящихся к применению к cryo-TEM для изучения липосом. В документе приведены подробные инструкции по подготовке образцов, параметрам оборудования, условиях экспериментов и методам анализа. Он предназначен для обеспечения воспроизводимости и точности результатов, полученных при использовании крио-электронной микроскопии. Стандарт охватывает различные аспекты, включая выбор материалов, калибровку оборудования, контроль качества и документирование процесса. Основное внимание уделено обеспечению согласованности методов, применяемых в научных исследованиях и промышленных разработках, где крио-электронная микроскопия играет ключевую роль. Описание включает также рекомендации по интерпретации полученных данных и их представлению в виде отчетов.

ASTM E3143-18a История

  • 2023 ASTM E3143-18b(2023) Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • 2018 ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • 2018 ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • 2018 ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

ASTM E3143-18b(2023 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом ASTM E3143-18 практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом JEDEC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов в капсулах IPC/JEDEC J-STD-609-2007 Маркировка и маркировка компонентов @ печатных плат и печатных плат для идентификации свинца (Pb) @ отсутствия свинца и других свойств IPC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов DS/EN 60749-35:2007 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах GSO IEC 60749-35:2014 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах BS EN 60749-35:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах



© 2025. Все права защищены.