T/SPSTS 030-2023
Измерение размера листа графенового материала с помощью сканирующей электронной микроскопии (Англоязычная версия)

Стандартный №: T/SPSTS 030-2023
язык: Китайский, Доступно на английском
Дата публикации: 2023
Разместил: Group Standards of the People's Republic of China
Последняя версия: T/SPSTS 030-2023

сфера применения: В этом документе указаны термины и определения, принципы, приборы и оборудование, реагенты и материалы, анализ результатов и содержание протоколов испытаний для измерения размера чешуек графеновых материалов с помощью сканирующей электронной микроскопии. Этот документ применим к измерению диаметра листа графенового материала.

T/SPSTS 030-2023 История

2023 T/SPSTS 030-2023 Измерение размера листа графенового материала с помощью сканирующей электронной микроскопии

Специальные темы по стандартам и нормам

SEM-контент Размеры электронного микроскопа СЭМ-наблюдение Литиевый СЭМ Основа обнаружения SEM Литиевые чешуйки для СЭМ Как измерить размер микроскопа Универсальный микроскоп для материалов Универсальный микроскоп для материалов Какие электроны обнаруживает сканирующий электронный микроскоп Диаметр СЭМ Есть ли какой-либо тест на сканирующем электронном микроскопе?

стандарты и спецификации

JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии DANSK DS/EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа BS 3406-4:1993 Методы определения гранулометрического состава - Руководство по методам микроскопии и анализа изображений KS K ISO 17751:2009 Текстиль. Количественный анализ волокон животного происхождения с помощью микроскопа. Кашемир, шерсть, специальные волокна и их смеси ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения GSO ISO 19749:2024 Нанотехнологии — Измерение распределения размеров и формы частиц методом сканирующей электронной микроскопии KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

© 2025. Все права защищены.