JB/T 5584-1991
Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- JB/T 5584-1991
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1991
- Разместил
- Professional Standard - Machinery
- состояние
- Последняя версия
- JB/T 5584-1991
- сфера применения
- Настоящий стандарт определяет технические требования, образцы для испытаний, оборудование и методы испытаний при увеличении просвечивающего электронного микроскопа. Настоящий стандарт распространяется на испытания с увеличением электронного микроскопа.
JB/T 5584-1991 История
- 1991 JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
Специальные темы по стандартам и нормам
электронный микроскоп вакуумный
Просвечивающая электронная микроскопия 2
Поле ТЕМ
Сколько раз просвечивающий электронный микроскоп
Трансмиссионная электронная микроскопия 2 недели
Полевая трансмиссионная электронная микроскопия
Просвечивающий электронный микроскоп 30 раз
Просвечивающая электронная микроскопия с
Электрон для ТЭМ
Контраст просвечивающей электронной микроскопии
Ящик для образцов ПЭМ
Требования к образцам для трансмиссионной электронной микроскопии
стандарты и спецификации
GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
BS ISO 21363:2020 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии
UNI EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения размеров и формы частиц методом просвечивающей электронной микроскопии
ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов
BS EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
DANSK DS/EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020
NS-EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020