DB31/T 315-2004 (Англоязычная версия) Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа - Стандарты и спецификации PDF

DB31/T 315-2004
Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа (Англоязычная версия)

Стандартный №
DB31/T 315-2004
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2004
Разместил
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China
состояние
 2024-12
Последняя версия
DB31/T 315-2004
 

Введение
Данный стандарт устанавливает методы калибровки увеличения в трансмиссионных электронных микроскопах. В документе приведены общие положения, необходимые для обеспечения точности измерений и корректности результатов. Описаны основные принципы и последовательность действий, которые следует соблюдать при выполнении калибровки. Также указаны требования к оборудованию, используемому для проведения работ, а также условия, при которых должны выполняться измерения. В тексте стандарта содержатся рекомендации по подготовке образцов и методы их анализа. Данный документ может быть использован специалистами, занимающимися эксплуатацией и обслуживанием трансмиссионных электронных микроскопов, а также для обеспечения соответствия результатов измерений установленным нормам.

DB31/T 315-2004 Ссылочный документ

  • JJF 1001-1998 Общие термины метрологии и их определения
  • JY/T 011-1996  Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии

DB31/T 315-2004 История

  • 2004 DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

BS ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической BS ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии GSO ISO 29301:2016 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения DIN EN ISO 21363 E:2021-09 Нанотехнологическое измерение распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии (проект



© 2025. Все права защищены.