электронный микроскоп вакуумный

электронный микроскоп вакуумный, Всего: 200 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к электронный микроскоп вакуумный, являются: Качество воздуха, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Словари, Системы и компоненты аэрокосмических жидкостей, Линейные и угловые измерения, Метрология и измерения в целом, Строительные материалы, Сварка, пайка и пайка, Обработка поверхности и покрытие, Образование, Физика. Химия, Защита от преступности, Электронные компоненты в сборе, Медицинское оборудование, Электронные компоненты в целом, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Полупроводниковые приборы, Самолеты и космические аппараты в целом.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), электронный микроскоп вакуумный

JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.

Professional Standard - Machinery, электронный микроскоп вакуумный

JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа

International Organization for Standardization (ISO), электронный микроскоп вакуумный

ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO/DIS 25498:2024 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 9344:2016 Микроскопы - Сетки для окуляров
ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
ISO 19012-1:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 1. Равномерность поля/План
ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
ISO 19012-1:2011 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 1. Равномерность поля/План
ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 19214:2024 Микролучевой анализ — Аналитическая электронная микроскопия — Метод определения видимого направления роста нанокристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ISO 14966:2019 Воздух окружающий. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 10312:1995 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 21363:2020 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 11884-2:2007 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.

GSO, электронный микроскоп вакуумный

OS GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
OS GSO ISO 9344:2015 Микроскопы. Сетки для окуляров.
BH GSO ISO 25498:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
OS GSO ISO 15932:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
GSO ISO 15932:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
BH GSO ISO 15932:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
GSO ISO/TS 24597:2013 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
OS GSO ISO 8036:2015 Оптика и фотоника. Микроскопы. Жидкости иммерсионные для световой микроскопии.
OS GSO ISO/TS 24597:2013 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
GSO ISO 8036:2015 Оптика и фотоника. Микроскопы. Жидкости иммерсионные для световой микроскопии.
GSO ISO 9220:2013 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
BH GSO ISO 19012-1:2016 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопов. Часть 1. Плоскостность поля/план.
GSO ISO 10312:2015 Воздух окружающий. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.

British Standards Institution (BSI), электронный микроскоп вакуумный

BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
BS ISO 9344:2016 Микроскопы. Сетки для окуляров
BS ISO 9344:2011 Микроскопы. Сетки для окуляров
BS ISO 19012-1:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Ровность поля/План
24/30479937 DC BS ISO 25498 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BS 7012-8:1997 Световые микроскопы - Сетки для окуляров
BS ISO 19214:2024 Микролучевой анализ. Аналитический электронный микроскоп. Метод определения видимого направления роста нанокристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
24/30474499 DC BS ISO 19214 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов методом просвечивающей электронной микроскопии
BS ISO 14966:2019 Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS ISO 11884-2:2007 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Высокопроизводительные микроскопы
BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
BS ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Стереомикроскопы общего назначения.
BS ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BS ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
18/30375050 DC BS ISO 14966. Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
BS ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
BS ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), электронный микроскоп вакуумный

KS B ISO 19012-1:2011 Оптика и фотоника. Назначение объективов микроскопа. Часть 1. Неравномерность поля/План.
KS B ISO 19012-1:2016 Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-2019 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2022 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D 8544-2021 Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS I ISO 10312:2008 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
KS I ISO 10312-2008(2018) Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод прямой просвечивающей электронной микроскопии
KS I ISO 13794:2008 Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
KS B ISO 11884-2-2011(2021) Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS B ISO 11884-2-2011(2016) Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS B ISO 11884-2:2011 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS B ISO 19012-1-2016 Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План

American Society for Testing and Materials (ASTM), электронный микроскоп вакуумный

ASTM D5756-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и косвенного анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на массовую концентрацию асбеста
ASTM D5756-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и косвенного анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на массовую концентрацию асбеста
ASTM D5755-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
ASTM D5755-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM D5756-02(2008) Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии для массовой поверхностной нагрузки асбеста
ASTM D5755-03 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
ASTM D5755-09(2014)e1 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
ASTM D5755-09 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
ASTM RR-D22-1032 2009 D5755-Метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии для поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста

SCC, электронный микроскоп вакуумный

BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
BS ISO 19012-1:2011 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа – Ровность поля/План
BS 7012-16:1997 Световые микроскопы-Диаметр сменных окуляров для микроскопов с длиной тубуса 160 мм
12/30266267 DC БС ИСО 19012-1. Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Ровность поля/План
06/30128226 DC ISO 22493. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
12/30245653 DC BS ISO 15932. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарный запас
BS EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
08/30138435 DC BS ISO 24597. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения
13/30203227 DC BS ISO 13083. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения сканирующей микроскопии сопротивления растеканию и сканирующей емкостной микроскопии
HOLDEN HN 0295-2012 Микроскопическое измерение толщины сухой пленки
BS ISO 19012-1:2007 Оптика и фотоника. Обозначение объективов микроскопа – Ровность поля/плана
HOLDEN HN 0295-2004 МИКРОСКОПИЧЕСКОЕ ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ СУХОЙ ПЛЕНКИ
AENOR UNE-EN ISO 9220:1996 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
BS 7012-8:1990 Световые микроскопы. Спецификация на сетки с разметкой поверхности для окуляров

Association Francaise de Normalisation, электронный микроскоп вакуумный

NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
NF X11-660:1983 Размер частиц - Анализ размера частиц методом оптической микроскопии - Общие сведения о микроскопе.
XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
NF X43-050:2021 Качество воздуха. Определение концентрации асбестового волокна методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
NF X43-050:1996 Качество воздуха. Определение концентрации асбестовых волокон методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
X11-660:1983 Анализ размера частиц методом оптического микроскопа. Общие показания к микроскопу.
NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
NF ISO 13794:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.

Society of Automotive Engineers (SAE), электронный микроскоп вакуумный

SAE ARP598C-2003 (R) Аэрокосмическая микроскопия определения размеров и подсчета твердых частиц в гидроэнергетических системах

Professional Standard - Education, электронный микроскоп вакуумный

JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, электронный микроскоп вакуумный

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, электронный микроскоп вакуумный

JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, электронный микроскоп вакуумный

DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок

Group Standards of the People's Republic of China, электронный микроскоп вакуумный

T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа
T/CSTM 00003-2019 Измерение толщины двумерных материалов Атомно-силовая микроскопия (АСМ)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, электронный микроскоп вакуумный

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, электронный микроскоп вакуумный

GB/T 43846.1-2024 Микроскоп Номенклатура объективов микроскопа. Часть 1. Неплоскость поля изображения/плоское поле.
GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.

Association of German Mechanical Engineers, электронный микроскоп вакуумный

DVS 2803-1974 Электронно-лучевая сварка в микроскопии (обзор)

Gosstandart of Russia, электронный микроскоп вакуумный

GOST R ISO 14966-2022 Атмосферный воздух. Определение концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
GOST 21006-1975 Электронные микроскопы. Термины, определения и буквенные обозначения

Danish Standards Foundation, электронный микроскоп вакуумный

DANSK DS/ISO 9220:2022 Металлические покрытия – Измерение толщины покрытия – Метод сканирующего электронного микроскопа
DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
DANSK DS/EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

Military Standards (MIL-STD), электронный микроскоп вакуумный

DOD A-A-54873-1993 КОРОБКИ, ПРЕДМЕТНЫЕ ПРЕДМЕТЫ ДЛЯ МИКРОСКОПА, ПЛАСТИКОВЫЕ
DOD A-A-53609-1988 ЩИПЦЫ, ПОКРЫТИЕ МИКРОСКОПА

SE-SIS, электронный микроскоп вакуумный

SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

Bureau of Indian Standards, электронный микроскоп вакуумный

IS 13108-2019 Оптика и фотоника — Микроскопы — Иммерсионные жидкости для световой микроскопии (вторая редакция)

European Committee for Standardization (CEN), электронный микроскоп вакуумный

EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).

German Institute for Standardization, электронный микроскоп вакуумный

DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
DIN 58272:2009 Медицинские инструменты - Микроскопические щипцы, мелкий рисунок.
DIN 58272:2016 Медицинские инструменты - Микроскопические щипцы, мелкий рисунок.
DIN 58272:1983 Медицинские инструменты; микроскопические щипцы, мелкий рисунок
DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)

Professional Standard - Public Safety Standards, электронный микроскоп вакуумный

GA/T 1662-2019 Техническая спецификация метода микроволнового разложения, вакуумной фильтрации и микроскопии для судебно-медицинской экспертизы диатомовых водорослей

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), электронный микроскоп вакуумный

IPC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов
IPC TM-650 2.6.22-1995 Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, электронный микроскоп вакуумный

GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Spanish Association for Standardization (UNE), электронный микроскоп вакуумный

UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).

Professional Standard - Medicine, электронный микроскоп вакуумный

YY 1296-2016 Оптические и фотонные хирургические микроскопы Фотоопасность офтальмологических хирургических микроскопов

International Electrotechnical Commission (IEC), электронный микроскоп вакуумный

IEC PAS 62191:2000 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов

American National Standards Institute （ANSI), электронный микроскоп вакуумный

ANSI/ASTM D6056:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом просвечивающей электронной микроскопии
ANSI/ASTM D6059:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом сканирующей электронной микроскопии

PH-BPS, электронный микроскоп вакуумный

PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, электронный микроскоп вакуумный

DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

国家能源局, электронный микроскоп вакуумный

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, электронный микроскоп вакуумный

JEDEC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов в капсулах

Professional Standard - Petroleum, электронный микроскоп вакуумный

SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа

Defense Logistics Agency, электронный микроскоп вакуумный

DLA A-A-52040 VALID NOTICE 1-2001 СТЕРЕОСКОПЫ, ОБЪЕКТИВЫ, ИНТЕРПРЕТАЦИЯ АЭРОФОТОГРАФИЙ (КАРМАННЫЕ)
DLA A-A-52040 VALID NOTICE 2-2007 СТЕРЕОСКОПЫ, ОБЪЕКТИВЫ, ИНТЕРПРЕТАЦИЯ АЭРОФОТОГРАФИЙ (КАРМАННЫЕ)
DLA A-A-52040-1992 СТЕРЕОСКОПЫ, ОБЪЕКТИВЫ, ИНТЕРПРЕТАЦИЯ АЭРОФОТОГРАФИЙ (КАРМАННЫЕ)

Lithuanian Standards Office , электронный микроскоп вакуумный

LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)