NF X43-050:1996 Качество воздуха. Определение концентрации асбестовых волокон методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод. - Стандарты и спецификации PDF

NF X43-050:1996
Качество воздуха. Определение концентрации асбестовых волокон методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.

Стандартный №
NF X43-050:1996
Дата публикации
1996
Разместил
Association Francaise de Normalisation
Последняя версия
NF X43-050:1996
 

NF X43-050:1996 История

  • 1996 NF X43-050:1996 Качество воздуха. Определение концентрации асбестовых волокон методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
Качество воздуха. Определение концентрации асбестовых волокон методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

JIS K 3850-3:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом ASTM D6281-98 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей ISO 10312:1995 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии GSO ISO 13794:2024 Атмосферный воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом ISO 13794:2019 Атмосферный воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом JIS K 3850-2:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 2. Метод просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии BS ISO 13794:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом AWWA JAW6742 Журнал AWWA — Анализ асбестовых волокон в воде с помощью просвечивающей электронной микроскопии



© 2025. Все права защищены.