передача+тема

передача+тема, Всего: 46 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к передача+тема, являются: Электромагнитная совместимость (ЭМС), Системы дорожного транспорта, Полупроводниковые приборы, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Аналитическая химия, Технические рисунки.

Society of Automotive Engineers (SAE), передача+тема

SAE J1752/3-1995 Измерение излучаемых излучений интегральных схем – метод ячеек Tem/Wideband Tem (Gtem); Tem Cell (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная Tem Cell (от 150 кГц до 8 ГГц)
SAE J1752/3-2003 Измерение излучений интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
SAE J1752/3-2017 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
SAE J1752-3-2011 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц) @ Широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
SAE J1752/3-2011 Измерение излучаемых излучений от интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
SAE J1113-24-2010 Процедуры испытаний на электромагнитную восприимчивость компонентов транспортных средств (кроме самолетов)
SAE J1113/24-2000 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; TEM-ячейка Crawford от 10 кГц до 200 МГц и широкополосная TEM-ячейка от 10 кГц до 5 ГГц
SAE J1113/24-2006 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; TEM-ячейка Crawford от 10 кГц до 200 МГц и широкополосная TEM-ячейка от 10 кГц до 5 ГГц
SAE J1113-24-2000 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; От 10 кГц до 200 МГц — ячейка Crawford TEM и от 10 кГц до 5 ГГц — широкополосная ячейка TEM
SAE J1113/24-2010 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; От 10 кГц до 200 МГц — ячейка Crawford TEM и от 10 кГц до 5 ГГц — широкополосная ячейка TEM
SAE J1113-24-2006 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; Ячейка Crawford TEM от 10 кГц до 200 МГц и широкополосная ячейка TEM от 10 кГц до 5 ГГц
SAE J1407-1982 Испытание восприимчивости транспортных средств к электромагнитному излучению с использованием большой термоячейки
SAE J1407-1988 Испытание восприимчивости транспортных средств к электромагнитному излучению с использованием большой TEM-ячейки. Информационный отчет;

GSO, передача+тема

GSO IEC 61967-2:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.
OS GSO IEC 61967-2:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.
BH GSO IEC 61967-2:2016 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.
GSO IEC 62132-2:2013 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.
BH GSO IEC 62132-2:2016 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.

Association Francaise de Normalisation, передача+тема

NF C96-260-2*NF EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2: измерение излучаемых излучений, метод TEM-ячейки и широкополосный метод TEM-ячейки.
NF EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод ячейки TEM и широкополосная ячейка TEM.
NF C96-261-2*NF EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.
NF EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосная ячейка TEM.
NF EN 61967-8:2012 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 8. Измерение излучаемого излучения. Полосковый метод TEM для ИС.

Spanish Association for Standardization (UNE), передача+тема

UNE-EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (одобрено AENOR в январе 2006 г.)
UNE-EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (одобрено AENOR в июле 2011 г.).

International Electrotechnical Commission (IEC), передача+тема

IEC 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.

German Institute for Standardization, передача+тема

DIN EN 61967-2:2006-03 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 61967-2:2005)
DIN EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 61967-2:2005); Немецкая версия EN 61967-2:2005.

Comitato Elettrotecnico Italiano, передача+тема

CEI EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений, метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.
CEI EN 62132-2:2012 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.

Danish Standards Foundation, передача+тема

DANSK DS/EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.
DS/EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.
DANSK DS/EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.
DS/EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.

British Standards Institution (BSI), передача+тема

BS EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.
BS EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Измерение радиационной невосприимчивости. Ячейка TEM и метод широкополосной ячейки TEM

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, передача+тема

EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемого излучения. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.
EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.

Professional Standard - Post and Telecommunication, передача+тема

YD/T 1690.2-2007 Внутренняя часть телекоммуникационного оборудования. Измерение электромагнитного излучения от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.

Lithuanian Standards Office , передача+тема

LST EN 61967-2-2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (IEC 61967-2:2005).

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, передача+тема

GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/T 42968.2-2024 Измерение электромагнитной устойчивости интегральной схемы Часть 2: Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.
GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Association for Electrical, Electronic & Information Technologies (VDE), передача+тема

VDE 0847-22-2-2011 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Часть 2. Измерение радиационной устойчивости. Методы TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 62132-2:2010); Немецкая версия EN 62132-2:2011

Group Standards of the People's Republic of China, передача+тема

T/WHHLW 62-2023 Технические характеристики новой ТЭМ-камеры для испытаний ИС электромагнитным излучением

American Society for Testing and Materials (ASTM), передача+тема

ASTM RR-D22-1031 2009 D6281-Метод определения концентрации асбеста в воздухе в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой методом просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ)