IEC 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки. - Стандарты и спецификации PDF

IEC 61967-2:2005
Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.

Стандартный №
IEC 61967-2:2005
Дата публикации
2005
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
Последняя версия
IEC 61967-2:2005
заменять
IEC 47A/722/FDIS:2005
 

сфера применения
Данная процедура испытаний определяет метод измерения электромагнитного излучения интегральной схемы (ИС). Оцениваемая ИС монтируется на испытательную печатную плату (PCB) ИС, которая крепится к ответному порту (называемому настенным портом), вырезанному сверху или снизу поперечного электромагнитного (TEM) или широкополосного гигагерцового TEM (GTEM). ) клетка. Тестовая плата не находится внутри ячейки, как при обычном использовании, а становится частью стенки ячейки. Этот метод применим к любой ячейке TEM или GTEM, модифицированной для включения настенного порта; однако на измеренное радиочастотное (РЧ) напряжение будет влиять множество факторов. Основным фактором, влияющим на измеренное ВЧ-напряжение, является расстояние между перегородкой и тестовой платой ИС (стенкой ячейки). Эта процедура была разработана с использованием ячейки TEM 1 ГГц с расстоянием между перегородкой и полом 45 мм и ячейки GTEM со средним расстоянием между перегородкой и полом 45 мм по площади порта. Другие ячейки могут не давать идентичного спектрального выходного сигнала, но могут использоваться для сравнительных измерений с учетом их ограничений по частоте и чувствительности. Коэффициент преобразования может позволить сравнивать данные, измеренные на ячейках TEM или GTEM с разным расстоянием между перегородками и полом. Плата тестирования ИС контролирует геометрию и ориентацию рабочей ИС относительно ячейки и исключает любые соединительные выводы внутри ячейки (они находятся на задней стороне платы, которая находится за пределами ячейки). Для ячейки TEM один из портов 50 Ом завершается нагрузкой 50 Ом. Другой порт 50 Ом для ячейки TEM или единственный порт 50 Ом для ячейки GTEM подключается ко входу анализатора спектра или приемника, который измеряет радиочастотные излучения, исходящие от интегральной схемы и наносимые на перегородку ячейки. .

IEC 61967-2:2005 Ссылочный документ

  • IEC 60050-131:2002 Международный электротехнический словарь. Часть 131: Теория цепей
  • IEC 61967-1 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 1. Общие условия и определения.*2018-12-12 Обновление

IEC 61967-2:2005 История

  • 2005 IEC 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.
Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

GSO IEC 61967-2:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки. BS EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки. DS/EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки. DANSK DS/EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки. EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемого излучения. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки. CEI EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений, метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки. OS GSO IEC 61967-2:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки. BH GSO IEC 61967-2:2016 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки. DIN EN 61967-2:2006-03 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM



© 2025. Все права защищены.