Данный стандарт регламентирует методы измерения электромагнитных излучений, генерируемых интегральными схемами, в диапазоне частот от 150 кГц до 1 ГГц. Вторая часть стандарта посвящена измерениям излучения, выполняемым с использованием методов, основанных на температурно-электрических камерах (TEM) и широкополосных температурно-электрических камерах (宽带 TEM). В документе описываются технические требования, оборудование, используемое для измерений, а также процедуры выполнения тестов. Он предназначен для обеспечения согласованности и точности измерений, проводимых в лабораторных условиях, и может использоваться в различных отраслях, связанных с разработкой и тестированием электронных компонентов. Данный стандарт является частью серии, направленной на стандартизацию методов измерения электромагнитных излучений, связанных с интегральными схемами.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.