DIN EN 61967-2:2006
Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 61967-2:2005); Немецкая версия EN 61967-2:2005.

Стандартный №: DIN EN 61967-2:2006
Дата публикации: 2006
Разместил: German Institute for Standardization
состояние: быть заменен
быть заменен: DIN EN 61967-2:2006-03
Последняя версия: DIN EN 61967-2:2006-03
заменять: DIN IEC 61967-2:2003

DIN EN 61967-2:2006 Ссылочный документ

IEC 61967-1 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 1. Общие условия и определения.*， 2018-12-12 Обновление

DIN EN 61967-2:2006 История

2006 DIN EN 61967-2:2006-03 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 61967-2:2005)
2006 DIN EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 61967-2:2005); Немецкая версия EN 61967-2:2005.
0000 DIN IEC 61967-2:2003

Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 61967-2:2005); Немецкая версия EN 61967-2:2005.

Специальные темы по стандартам и нормам

Измерение УВЧ-излучения

стандарты и спецификации

DIN EN 62132-2:2011-07*VDE 0847-22-2:2011-07 Интегральные схемы – Измерение электромагнитной устойчивости EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной GSO IEC 61967-8:2014 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 8. Измерение излучаемого излучения. Метод полосковой линии ИС IEC 61967-8:2011 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 8. Измерение излучаемого излучения. Метод полосковой линии ИС DS/EN 61967-8:2011 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 8. Измерение излучаемого излучения. Метод полосковой линии ИС DS/EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной SAE J1752/3-2017 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM SAE J1752/3-1995 Измерение излучаемых излучений интегральных схем – метод ячеек Tem/Wideband Tem (Gtem); Tem Cell (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная Tem Cell (от 150 кГц до 8 GSO IEC 61967-2:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки

© 2025. Все права защищены.