NF C96-261-2*NF EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.
Стандарт определяет методы измерения устойчивости к электромагнитным воздействиям для интегральных схем. В нем описываются процедуры проведения испытаний на устойчивость к радиационным помехам с использованием камеры TEM и метода широкополосной камеры TEM. Стандарт устанавливает требования к проведению испытаний, включая условия тестирования, оборудование и методику измерений. Он также включает в себя рекомендации по интерпретации полученных результатов. Стандарт направлен на обеспечение согласованности и воспроизводимости результатов испытаний.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.
NF C96-261-2*NF EN 62132-2:2011 История
2011NF C96-261-2*NF EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.