Данный стандарт регламентирует методы измерения электромагнитной устойчивости интегральных схем. Вторая часть документа посвящена измерению устойчивости к излучению, используя методы с применением TEM-камеры и широкополосной TEM-камеры. Он описывает процедуры, оборудование и условия, необходимые для проведения испытаний, а также определяет параметры, которые должны быть измерены и зарегистрированы. Стандарт обеспечивает единые требования и рекомендации, направленные на повышение точности и воспроизводимости результатов измерений. В тексте приведены общие положения, относящиеся к проведению испытаний, а также конкретные методы, которые могут быть использованы при выполнении работ. Документ подходит для применения в различных отраслях, где требуется проверка и оценка электромагнитной совместимости электронных компонентов.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.