DIN EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 62132-2:2010); Немецкая версия EN 62132-2:2011 - Стандарты и спецификации PDF

DIN EN 62132-2:2011
Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 62132-2:2010); Немецкая версия EN 62132-2:2011

Стандартный №
DIN EN 62132-2:2011
Дата публикации
2011
Разместил
German Institute for Standardization
состояние
быть заменен
DIN EN 62132-2:2011-07
Последняя версия
DIN EN 62132-2:2011-07
заменять
DIN IEC 62132-2:2006
 

Введение
Настоящий стандарт регламентирует методы измерения электромагнитной устойчивости интегральных схем. В частности, он описывает процедуры определения устойчивости к радиочастотным помехам с использованием методов, связанных с поперечными электромагнитными волноводами и широкополосными поперечными электромагнитными волноводами. Стандарт применяется для обеспечения согласованности и точности результатов измерений, проводимых в лабораторных условиях. Он содержит подробные указания по подготовке образцов, настройке оборудования, выполнению измерений и обработке полученных данных. Данный документ является частью серии стандартов, посвященных измерению электромагнитной устойчивости, и предназначен для использования в научных, промышленных и образовательных целях.

DIN EN 62132-2:2011 Ссылочный документ

  • IEC 61967-2 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.

DIN EN 62132-2:2011 История

  • 2011 DIN EN 62132-2:2011-07 Интегральные схемы - Измерение электромагнитной устойчивости - Часть 2: Измерение устойчивости к излучению - Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (IEC 62132-2:2010); Немецкая версия EN 62132-2:2011
  • 2011 DIN EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 62132-2:2010); Немецкая версия EN 62132-2:2011
  • 0000 DIN IEC 62132-2:2006

стандарты и спецификации

EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной DS/EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной DIN EN 62132-2:2011-07*VDE 0847-22-2:2011-07 Интегральные схемы – Измерение электромагнитной устойчивости DIN EN 62132-8:2013-03*VDE 0847-22-8:2013-03 Интегральные схемы – Измерение электромагнитной устойчивости GSO IEC 61967-2:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки IEC 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки BS EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки SAE J1752-3-2011 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц) @ Широкополосная ячейка TEM SAE J1752/3-2017 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM



© 2025. Все права защищены.