DIN EN 62132-2:2011-07
Интегральные схемы - Измерение электромагнитной устойчивости - Часть 2: Измерение устойчивости к излучению - Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (IEC 62132-2:2010); Немецкая версия EN 62132-2:2011

Введение: Этот стандарт описывает методы измерения электромагнитной совместимости для интегральных схем, конкретно для радиационной устойчивости. Он включает в себя процедуры тестирования в камере TEM и широкополосной камере TEM. Стандарт определяет условия, оборудование и методы проведения испытаний, а также критерии оценки результатов. Основное внимание уделяется обеспечению точности и воспроизводимости измерений. Стандарт также устанавливает требования к подготовке образцов и проведению тестов в специализированных помещениях. Он служит основой для оценки способности устройств сопротивляться воздействию электромагнитных полей.

*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.

DIN EN 62132-2:2011-07 История

2011 DIN EN 62132-2:2011-07 Интегральные схемы - Измерение электромагнитной устойчивости - Часть 2: Измерение устойчивости к излучению - Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (IEC 62132-2:2010); Немецкая версия EN 62132-2:2011
2011 DIN EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 62132-2:2010); Немецкая версия EN 62132-2:2011
0000 DIN IEC 62132-2:2006