BS EN 62132-2:2011
Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Измерение радиационной невосприимчивости. Ячейка TEM и метод широкополосной ячейки TEM
- Стандартный №
- BS EN 62132-2:2011
- Дата публикации
- 2011
- Разместил
- British Standards Institution (BSI)
- Последняя версия
- BS EN 62132-2:2011
- сфера применения
- Настоящий международный стандарт определяет метод измерения устойчивости интегральной схемы (ИС) к радиочастотным (РЧ) излучаемым электромагнитным помехам. Диапазон частот этого метода составляет от 150 кГц до 1 ГГц или ограничен характеристиками ТЕМ-ячейки.
BS EN 62132-2:2011 История
- 2011 BS EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Измерение радиационной невосприимчивости. Ячейка TEM и метод широкополосной ячейки TEM
стандарты и спецификации
GSO IEC 61967-2:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки
IEC 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки
BS EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки
SAE J1752/3-1995 Измерение излучаемых излучений интегральных схем – метод ячеек Tem/Wideband Tem (Gtem); Tem Cell (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная Tem Cell (от 150 кГц до 8
SAE J1752/3-2017 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM
SAE J1752/3-2011 Измерение излучаемых излучений от интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM
SAE J1752/3-2003 Измерение излучений интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц
SAE J1752-3-2011 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц) @ Широкополосная ячейка TEM
SAE J1113/24-2006 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; TEM-ячейка Crawford от 10 кГц до 200 МГц и широкополосная TEM-ячейка от 10 кГц до 5 ГГц