SAE J1113/24-2006 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; TEM-ячейка Crawford от 10 кГц до 200 МГц и широкополосная TEM-ячейка от 10 кГц до 5 ГГц
В этой части SAE J1113 определены методы и процедуры испытаний ячеек в поперечном электромагнитном режиме (TEM) для проверки электромагнитной устойчивости электронных компонентов (DUT) для легковых автомобилей, коммерческого транспорта и аналогичных приложений. В документе обсуждаются методы с использованием ячейки TEM постоянного сечения (Crawford TEM) и ячейки TEM с расширяющимся поперечным сечением (широкополосной TEM). Электромагнитные помехи, рассматриваемые в этой части SAE J1113, будут ограничены непрерывными узкополосными электромагнитными полями. Ячейки ТЕМ одновременно создают как электрические, так и магнитные поля. Испытание непосредственно применимо к ИУ, высота которых составляет менее 1/3 высоты перегородки; несколько более крупные модули могут быть протестированы с применением условий. ТЕМ-камеру Кроуфорда и широкополосную ячейку ТЕМ можно использовать для испытаний на высоте 1/3 без демонстрации однородности поля внутри ячейки, если испытательная установка соответствует другим положениям настоящего стандарта. Этот тест можно использовать для двух целей: а. Проверка устойчивости ИУ с основной связью поля с ИУ и жгутом проводов; б. Проверка устойчивости ИУ с большой связью с ИУ. Методы, определенные в этом документе, имеют некоторые существенные отличия от ISO 11452-3. Тщательное обсуждение было уделено необходимости отхода от международного стандарта. Основные различия заключаются в методе вывода выводов ИУ из ячейки TEM и включении широкополосной ячейки TEM. Измерения помехоустойчивости целых транспортных средств, как правило, возможны только производителем транспортного средства. Причинами, например, являются высокая стоимость камеры с футеровкой абсорбера размером с автомобиль, сохранение секретности прототипов или большое количество различных моделей автомобилей. Таким образом, ячейка TEM полезна для исследований, разработок и контроля качества. Этот метод испытаний также требуется многим производителям автомобилей.
SAE J1113/24-2006 История
0000 SAE J1113/24_201008
2010SAE J1113/24-2010 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; От 10 кГц до 200 МГц — ячейка Crawford TEM и от 10 кГц до 5 ГГц — широкополосная ячейка TEM
0000 SAE J1113/24_200610
2006SAE J1113/24-2006 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; TEM-ячейка Crawford от 10 кГц до 200 МГц и широкополосная TEM-ячейка от 10 кГц до 5 ГГц
0000 SAE J1113/24_200005
2000SAE J1113/24-2000 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; TEM-ячейка Crawford от 10 кГц до 200 МГц и широкополосная TEM-ячейка от 10 кГц до 5 ГГц