SAE J1113/24_200610 Устойчивость к излучаемым электромагнитным полям; от 10 кГц до 200 МГц — ячейка Crawford TEM и от 10 кГц до 5 ГГц — широкополосная ячейка TEM
Стандарт определяет требования к устойчивости к радиоэлектромагнитным полям для устройств в диапазоне частот от 10 кГц до 200 МГц и от 10 кГц до 5 ГГц. Он включает методы тестирования, такие как использование кабинета с температурным режимом (TEM-камеры) и широкополосного TEM-кабинета. Стандарт описывает условия проведения испытаний, параметры излучения и методы оценки воздействия на оборудование. Также приводятся рекомендации по подготовке тестовой среды и измерению параметров. В документе рассматриваются методы обеспечения корректности измерений и требования к калибровке оборудования.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.
SAE J1113/24_200610 История
0000 SAE J1113/24_201008
2010SAE J1113/24-2010 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; От 10 кГц до 200 МГц — ячейка Crawford TEM и от 10 кГц до 5 ГГц — широкополосная ячейка TEM
0000 SAE J1113/24_200610
2006SAE J1113/24-2006 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; TEM-ячейка Crawford от 10 кГц до 200 МГц и широкополосная TEM-ячейка от 10 кГц до 5 ГГц
0000 SAE J1113/24_200005
2000SAE J1113/24-2000 Невосприимчивость к излучаемым электромагнитным полям; TEM-ячейка Crawford от 10 кГц до 200 МГц и широкополосная TEM-ячейка от 10 кГц до 5 ГГц