CEI EN 62132-2:2012 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.
Данный стандарт касается методов измерения электромагнитной совместимости (ЭМС) интегральных схем. Вторая часть стандарта спецификация относится к измерению устойчивости к радиационным помехам методами в камере ТЕМ и широкополосной камере ТЕМ. Стандарт предназначен для обеспечения согласованности и надежности при проведении таких тестов, что позволяет сравнивать результаты между различными лабораториями.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.
CEI EN 62132-2:2012 История
2012CEI EN 62132-2:2012 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.