IEC 62132-2:2010 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.

сфера применения: Настоящий международный стандарт определяет метод измерения устойчивости интегральной схемы (ИС) к радиочастотным (РЧ) излучаемым электромагнитным помехам. Диапазон частот этого метода составляет от 150 кГц до 1 ГГц или ограничен характеристиками ТЕМ-ячейки.

IEC 62132-2:2010 Ссылочный документ

IEC 60050-131:2002 Международный электротехнический словарь. Часть 131: Теория цепей
IEC 60050-161:1990 Международный электротехнический словарь; Глава 161: Электромагнитная совместимость
IEC 61967-2 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.
IEC 62132-1:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие условия и определения.

2010 IEC 62132-2:2010 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.