Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, Всего: 152 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, являются: Аналитическая химия, Электронные компоненты в целом, Оптика и оптические измерения, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Неразрушающий контроль, Линейные и угловые измерения, Оптическое оборудование, Огнеупоры, Атомная энергетика, Полупроводниковые материалы, Строительные материалы, Защита от преступности, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом.

German Institute for Standardization, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

DIN ISO 16129:2020-11 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
DIN ISO 16129 E:2020-01 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
DIN ISO 16129:2020 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
DIN ISO 16129 E:2020 Проект документа. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
DIN ISO 15472 E:2019-09 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
DIN ISO 15472:2020-05 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал (ISO 15472:2010)
DIN ISO 15472:2020 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал (ISO 15472:2010); Текст на английском языке
DIN 51418-1:1996 Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновско-эмиссионный и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 1. Определения и основные принципы.

British Standards Institution (BSI), Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

BS ISO 16129:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
BS ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
BS ISO 10810:2019 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
BS ISO 21270:2004(2010) Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
BS ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности
BS ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
BS ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
BS ISO 18516:2006(2010) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
BS ISO 15472:2001 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических весов
BS PD ISO/TR 19319:2003 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
BS ISO 14701:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
BS ISO 18554:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры выявления, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергаемом анализу методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
BS ISO 19318:2021 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчетность о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда
BS ISO 19318:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчетность о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда
BS ISO 15470:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора
BS ISO 14701:2011 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
BS ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
BS ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
BS ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

International Organization for Standardization (ISO), Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
ISO 16129:2018 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
ISO 10810:2019 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу.
ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
ISO/CD TR 18392:2023 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
ISO 15472:2001/DAmd 1 Химический анализ поверхностей. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Энергетическая калибровка. Поправка 1.
ISO 15470:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
ISO 14701:2018 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
ISO 18554:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры идентификации, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергающемся анализу с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
ISO 13424:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о результатах тонкопленочного анализа.
ISO 14701:2011 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
ISO/TR 19319:2003 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
ISO/TR 18392:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

Professional Standard - Electron, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

SJ/T 10458-1993 Стандартное руководство по обращению с образцами в оже-электронной спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
SJ/T 10714-1996 Стандартная практика проверки рабочих характеристик рентгеновских фотоэлектронных спектрометров

GSO, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

OS GSO ISO 16129:2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
BH GSO ISO 16129:2015 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
GSO ISO 10810:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
OS GSO ISO 10810:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
BH GSO ISO 10810:2016 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
BH GSO ISO 21270:2016 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
GSO ISO 21270:2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
OS GSO ISO 21270:2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
BH GSO ISO 19830:2017 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
GSO ISO 19830:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
OS GSO ISO 18516:2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
BH GSO ISO 18516:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
GSO ISO 18516:2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
BH GSO ISO 15472:2016 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал.
OS GSO ISO 18554:2017 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры идентификации, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергаемом анализу методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
GSO ISO 18554:2017 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры идентификации, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергаемом анализу методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
OS GSO ISO 19318:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
GSO ISO 14701:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
BH GSO ISO 19318:2016 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
GSO ISO/TR 18392:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
OS GSO ISO 13424:2015 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о результатах анализа тонких пленок.
BH GSO ISO 13424:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о результатах анализа тонких пленок.
GSO ISO 13424:2015 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о результатах анализа тонких пленок.
GSO ISO 16129:2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
GSO ISO 19318:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
GSO ISO 15470:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
OS GSO ISO 16243:2015 Химический анализ поверхности. Регистрация и представление данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
BH GSO ISO 16243:2017 Химический анализ поверхности. Регистрация и представление данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
GSO ISO 16243:2015 Химический анализ поверхности. Регистрация и представление данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).

American Society for Testing and Materials (ASTM), Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

ASTM E1015-90 Методы регистрации спектров в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E995-16 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E996-04 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E996-10 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E2108-16 Стандартная практика калибровки шкалы энергии связи электронов рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
ASTM E996-10(2018) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E996-19 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E996-94(1999) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E1523-97 Стандартное руководство по методам контроля заряда и привязки заряда в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E1523-15 Стандартное руководство по методам контроля заряда и привязки заряда в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E1523-24 Стандартное руководство по методам контроля заряда и определения заряда в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E995-11 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E2735-14(2020) Стандартное руководство по выбору калибровок, необходимых для экспериментов по рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
ASTM E1217-11(2019) Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах
ASTM E1217-11 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах
ASTM E1217-05 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах
ASTM E1217-00 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах
ASTM E902-94(1999) Стандартная практика проверки рабочих характеристик рентгеновских фотоэлектронных спектрометров
ASTM E1523-03 Стандартное руководство по методам контроля заряда и привязки заряда в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E1588-10e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E995-04 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E1523-09 Стандартное руководство по методам контроля заряда и привязки заряда в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

SCC, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

11/30230635 DC BS ISO 16129. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
09/30191895 DC BS ISO 10810. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
10/30212265 DC BS ISO 14701. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

GB/T 25184-2010 Метод поверки рентгеновских фотоэлектронных спектрометров
GB/T 19500-2004 Общие правила метода рентгенофотоэлектронно-спектроскопического анализа
GB/T 31470-2015 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в регистрируемый сигнал в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах.
GB/T 21006-2007 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
GB/T 30704-2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по проведению анализа.
GB/T 28632-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
GB/T 18873-2008 Общее руководство по трансмиссионному электронному микроскопу (ТЕМ) – рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для количественного микроанализа тонких биологических образцов
GB/T 18873-2002 Общие характеристики просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) — количественный микроанализ рентгеновского энергодисперсионного спектра (ЭДС) для тонких биологических образцов.
GB/T 22571-2008 Химический анализ поверхности.Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры.Калибровка энергетических шкал.
GB/Z 32490-2016 Методика определения фона методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для химического анализа поверхности
GB/T 25185-2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах контроля и коррекции заряда.
GB/T 17507-2008 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгеновского ЭДС-микроанализа в просвечивающем электронном микроскопе
GB/T 17507-1998 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгено-ЭДС-микроанализа в электронном микроскопе
GB/T 28892-2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
GB/T 28892-2024 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Выражение выбранных параметров работы прибора.
GB/T 29556-2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

KS D ISO 21270-2020 Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS D ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS D ISO 21270-2005(2020) Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
KS D ISO 19318-2005(2020) Химический анализ поверхности – рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
KS D ISO 15472-2003(2023) Химический анализ поверхности. Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр. Калибровка энергетической шкалы.
KS D ISO 19319-2005(2020) Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
KS D ISO 15470-2005(2020) Химический анализ поверхности－Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
KS D ISO 19318-2020 Химический анализ поверхности – рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
KS D ISO 15470-2020 Химический анализ поверхности－Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
KS L 3316-1988 Способ рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа огнеупорных изделий
KS L 3316-1998 Способ рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа огнеупорных изделий
KS D ISO 19319:2005 Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
KS D ISO 19319-2020 Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
KS L 3316-2014 Способ рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа огнеупорных изделий
KS L 3316-2019 Способ рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа огнеупорных изделий
KS L 3316-2014(2019) Способ рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа огнеупорных изделий

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

GB/T 41073-2021 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
GB/T 36401-2018 Химический анализ поверхности — рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — отчет о результатах анализа тонких пленок.

Standard Association of Australia （SAA）, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

AS ISO 15472:2006 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
AS ISO 19319:2006 Химический анализ поверхности - электронная спектроскопия Augur и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
AS ISO 15470:2006(R2016) Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
AS ISO 19318:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
AS ISO 15470:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

GB/T 22571-2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал.

Association Francaise de Normalisation, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

NF X21-071:2011 Химический анализ поверхности - Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по анализу.
NF X21-061:2008 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Определение латерального разрешения.
NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхностей - регистрация и отчетность данных рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).

American Water Works Association (AWWA), Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

AWWA 51768 Идентификация неисправности мембраны обратного осмоса низкого давления методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Professional Standard - Machinery, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

JB/T 11145-2011 Рентгенофлуоресцентный спектрометр

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

JIS R 2216:2005 Методы рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа огнеупорных изделий

Professional Standard - Nuclear Industry, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

EJ/T 805-1993 Источники фотонов низкой энергии для рентгенофлуоресцентного анализа

Professional Standard - Agriculture, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

58药典四部-2020 0461 Рентгенофлуоресцентная спектрометрия

Group Standards of the People's Republic of China, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

T/CSTM 01199-2024 Многослойная металлическая пленка-Метод измерения и анализа слоистой структуры-Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Professional Standard - Judicatory, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

SF/T 0139-2023 Исследование почвы сканирующим электронным микроскопом/рентгеновской энергетической спектрометрией

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

JJF 2024-2023 Требования к калибровке энергодисперсионных рентгенофлуоресцентных спектрометров