GB/T 41073-2021 (Англоязычная версия) Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. - Стандарты и спецификации PDF

GB/T 41073-2021
Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. (Англоязычная версия)

Стандартный №
GB/T 41073-2021
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2021
Разместил
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия
GB/T 41073-2021
 

сфера применения

Интерпретация основного содержания стандарта

GB/T41073-2021 эквивалентен международному стандарту ISO19830:2015, который устанавливает минимальные требования к представлению результатов подгонки пиков рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS). ESCALAB 250Xi, энергия 20 эВ Источник рентгеновского излучения Материал анода (Al/Mg), состояние монохроматизации Al Kα, монохроматизированное пятно 500 мкм Сбор данных Размер шага энергии, максимальное количество каналов Размер шага 0,1 эВ, 6839 отсчетов


Основные технические характеристики для подгонки пиков

Параметры подгонки одного спектра

Следующие параметры подгонки и их ограничения должны быть полностью представлены:

  1. Обработка фона: Тип и диапазон фона Ширли/Тугарда
  2. Функция формы пика: Коэффициент смешивания Гаусса-Лоренца (например, GL(30))
  3. Ограничения: Фиксированная/коррелированная FWHM, положение пика и т. д.
  4. Остаточный спектр: должен быть предоставлен вместе с результатами подгонки

Подгонка нескольких спектров

Особое внимание следует уделить таким сценариям, как профилирование глубины:

  • Выбор опорного спектра (обычно средний слой)
  • Метод распространения параметров (фиксированный/плавающий/коррелированный)
  • Требования к динамической корректировке фона (для предотвращения влияния химических shift)

Рекомендации по внедрению

Меры предосторожности при эксплуатации

Предложения по практическому применению:

  • Предпочтительно использовать динамическую подгонку фона
  • Метод компенсации заряда должен быть указан для изолирующих образцов
  • Приведенное значение χ² должно контролироваться в диапазоне 0,7–1,3

Анализ эволюции стандарта

Настоящий стандарт впервые преобразует ISO19830 в национальный стандарт. Основные технические изменения:

  1. Добавлен раздел «Нормативные ссылки»
  2. Уточнены определения китайских терминов
  3. Добавлены типичные примеры применения в приложение

GB/T 41073-2021 История

  • 2021 GB/T 41073-2021 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

GSO ISO 19830:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. BH GSO ISO 19830:2017 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. BS ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии BS ISO 20903:2019 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые JIS K 0142:2000 Химический анализ поверхности. Форматы информации BS ISO 18116:2005 Химический анализ поверхности. Рекомендации по подготовке и креплению образцов для анализа GSO ISO 18116:2008 Химический анализ поверхности. Рекомендации по подготовке и креплению образцов для анализа ISO 18116:2005 Химический анализ поверхности. Рекомендации по подготовке и креплению образцов для анализа ISO 14975:2000 Химический анализ поверхности - Форматы информации



© 2025. Все права защищены.