JIS K 0142:2000
Химический анализ поверхности. Форматы информации

Стандартный №

JIS K 0142:2000

Дата публикации

2000

Разместил

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Последняя версия

JIS K 0142:2000

сфера применения

Этот стандарт определяет формат, дополняющий JIS K 0141: Химический анализ поверхности — формат передачи данных, и используется для передачи данных для построения, расширения и модификации спектральных баз данных химического анализа поверхности. Формат применяется к электронной оже-спектроскопии (AES) и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).

JIS K 0142:2000 История

• 2000 JIS K 0142:2000 Химический анализ поверхности. Форматы информации