Он содержит рекомендации по методам крепления и обработки поверхности образца, подлежащего химическому анализу поверхности. Он предназначен для аналитиков в качестве помощи в понимании специальных условий обращения с образцами, необходимых для анализа такими методами, как электронная оже-спектроскопия, масс-спектрометрия вторичных ионов и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.
BS ISO 18116:2005 История
2018BS ISO 20579-4:2018 Химический анализ поверхности. Рекомендации по обращению с образцами, их подготовке и монтажу. Отчетная информация, связанная с историей, подготовкой, обращением и установкой нанообъектов перед анализом поверхности.
2005BS ISO 18116:2005 Химический анализ поверхности. Рекомендации по подготовке и креплению образцов для анализа
BS ISO 18116:2005 Химический анализ поверхности. Рекомендации по подготовке и креплению образцов для анализа было изменено на BS ISO 20579-4:2018 Химический анализ поверхности. Рекомендации по обращению с образцами, их подготовке и монтажу. Отчетная информация, связанная с историей, подготовкой, обращением и установкой нанообъектов перед анализом поверхности..