KS D ISO 19319-2005(2020) Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором. - Стандарты и спецификации PDF

KS D ISO 19319-2005(2020)
Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.

Стандартный №
KS D ISO 19319-2005(2020)
Дата публикации
2005
Разместил
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Последняя версия
KS D ISO 19319-2005(2020)
 

Введение
Данный стандарт регулирует методы определения поперечного разрешения, площади анализа и площади образца для аналитических приборов, используемых в поверхностном химическом анализе. Он охватывает техники аугер-электронной спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. В документе приведены подробные процедуры и рекомендации по проведению измерений, а также описание оборудования, необходимого для выполнения анализа. Стандарт направлен на обеспечение точности и воспроизводимости результатов, получаемых при использовании указанных методов. Он также включает информацию о калибровке и проверке оборудования, что позволяет обеспечить надежность и соответствие получаемых данных установленным критериям. В тексте стандарта описаны различные подходы к определению ключевых параметров, что способствует улучшению качества аналитических измерений.

KS D ISO 19319-2005(2020) История

  • 2020 KS D ISO 19319-2020 Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
  • 2005 KS D ISO 19319:2005 Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

ISO/TR 19319:2003 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором. BS PD ISO/TR 19319:2003 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором. KS D ISO 19319:2005 Химический анализ поверхностиэлектронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопияопределение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором. KS D ISO 19319-2020 Химический анализ поверхностиэлектронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопияопределение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором. AS ISO 19319:2006 Химический анализ поверхности - электронная спектроскопия Augur и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - определение латерального разрешения, области GSO ISO/TR 19319:2013 Химический анализ поверхности. Фундаментальные подходы к определению латерального разрешения и резкости в лучевых методах ASTM E1217-11 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских BS ISO 18116:2005 Химический анализ поверхности. Рекомендации по подготовке и креплению образцов для анализа GSO ISO 18116:2008 Химический анализ поверхности. Рекомендации по подготовке и креплению образцов для анализа



© 2025. Все права защищены.