Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи Стандартный

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи, Всего: 200 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи, являются: Аналитическая химия, Оптика и оптические измерения, Словари, Неразрушающий контроль, Атомная энергетика, Линейные и угловые измерения, Электростанции в целом, Черные металлы, Изделия из железа и стали, Металлоносные полезные ископаемые, Строительные материалы, Испытание металлов, Цветные металлы, Оптическое оборудование, Огнеупоры, Ферросплавы, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Полупроводниковые материалы, Ингредиенты краски, Электронные компоненты в целом.


German Institute for Standardization, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • DIN ISO 16129:2020-11 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
  • DIN ISO 16129 E:2020-01 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
  • DIN 51418-1:1996 Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновско-эмиссионный и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 1. Определения и основные принципы.
  • DIN 51418-1:2008 Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновско-эмиссионный и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 1. Определения и основные принципы.
  • DIN ISO 16129:2020 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
  • DIN 51418-1 E:2007 Проект документа. Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновско-эмиссионный и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 1. Определения и основные принципы.
  • DIN ISO 15472 E:2019-09 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
  • DIN 51418-1:2008-08 Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновско-эмиссионный и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 1. Определения и основные принципы.
  • DIN 51418-2:2015 Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновская эмиссия и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 2. Определения и основные принципы измерений, калибровки и оценки результатов.
  • DIN 51418-2:1996 Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновско-эмиссионный и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 2. Определения и основные принципы измерений, калибровки и оценки результатов.
  • DIN ISO 16129 E:2020 Проект документа. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
  • DIN 51418-2:2015-03 Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновская эмиссия и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 2. Определения и основные принципы измерений, калибровки и оценки результатов.
  • DIN 51418-2 E:2014 Проект документа. Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновская эмиссия и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 2. Определения и основные принципы измерений, калибровки и оценки результатов.
  • DIN ISO 15472:2020-05 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал (ISO 15472:2010)
  • DIN 51418-2 E:2014-06 Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновская эмиссия и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 2. Определения и основные принципы измерений, калибровки и оценки результатов.
  • DIN ISO 15472:2020 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал (ISO 15472:2010); Текст на английском языке

British Standards Institution (BSI), Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • BS ISO 16129:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
  • BS ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
  • BS ISO 10810:2019 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
  • BS ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
  • BS ISO 18554:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры выявления, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергаемом анализу методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
  • BS ISO 21270:2004(2010) Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • BS ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности
  • BS ISO 15472:2001 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических весов
  • BS ISO 18516:2006(2010) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • BS ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • BS ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • BS ISO 14701:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
  • BS ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
  • BS ISO 14701:2011 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
  • BS ISO 15470:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора
  • BS ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • BS ISO 13424:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о результатах тонкопленочного анализа
  • BS PD ISO/TR 19319:2003 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
  • BS ISO 15472:2010 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал

International Organization for Standardization (ISO), Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • ISO 16129:2018 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
  • ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
  • ISO 10810:2019 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу.
  • ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
  • ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • ISO 18554:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры идентификации, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергающемся анализу с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
  • ISO 13424:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о результатах тонкопленочного анализа.
  • ISO/CD TR 18392:2023 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
  • ISO 15472:2001/DAmd 1 Химический анализ поверхностей. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Энергетическая калибровка. Поправка 1.
  • ISO 14701:2018 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
  • ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
  • ISO 15470:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
  • ISO/TR 18392:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
  • ISO 14701:2011 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
  • ISO 15472:2001 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
  • ISO 15472:2010 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
  • ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.

GSO, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • BH GSO ISO 16129:2015 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
  • OS GSO ISO 16129:2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
  • GSO ISO 10810:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
  • BH GSO ISO 10810:2016 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
  • OS GSO ISO 10810:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
  • OS GSO ISO 18554:2017 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры идентификации, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергаемом анализу методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
  • GSO ISO 18554:2017 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры идентификации, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергаемом анализу методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
  • GSO ISO 16129:2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
  • OS GSO ISO 13424:2015 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о результатах анализа тонких пленок.
  • BH GSO ISO 13424:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о результатах анализа тонких пленок.
  • BH GSO ISO 21270:2016 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • GSO ISO 21270:2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • GSO ISO 13424:2015 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о результатах анализа тонких пленок.
  • OS GSO ISO 21270:2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • BH GSO ISO 15472:2016 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал.
  • GSO ISO 14701:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
  • OS GSO ISO 18516:2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • BH GSO ISO 18516:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • GSO ISO 18516:2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • GSO ISO/TR 18392:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
  • GSO ISO 15472:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал.
  • GSO ISO 19830:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
  • BH GSO ISO 19830:2017 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
  • OS GSO ISO 16243:2015 Химический анализ поверхности. Регистрация и представление данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
  • GSO ISO 16243:2015 Химический анализ поверхности. Регистрация и представление данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
  • BH GSO ISO 16243:2017 Химический анализ поверхности. Регистрация и представление данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
  • GSO ISO 15470:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • GSO ISO 24237:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • OS GSO ISO 19318:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
  • BH GSO ISO 19318:2016 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • GB/T 19500-2004 Общие правила метода рентгенофотоэлектронно-спектроскопического анализа
  • GB/T 30704-2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по проведению анализа.
  • GB/T 25184-2010 Метод поверки рентгеновских фотоэлектронных спектрометров
  • GB/T 21006-2007 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • GB/T 28632-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • GB/T 22571-2008 Химический анализ поверхности.Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры.Калибровка энергетических шкал.
  • GB/Z 32490-2016 Методика определения фона методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для химического анализа поверхности
  • GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
  • GB/T 42360-2023 Рентгенофлуоресцентный спектроскопический анализ воды с полным отражением для химического анализа поверхности
  • GB/T 28892-2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • GB/T 28892-2024 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Выражение выбранных параметров работы прибора.
  • GB/T 28633-2012 Химический анализ поверхности.Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • GB/T 18873-2008 Общее руководство по трансмиссионному электронному микроскопу (ТЕМ) – рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для количественного микроанализа тонких биологических образцов
  • GB/T 18873-2002 Общие характеристики просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) — количественный микроанализ рентгеновского энергодисперсионного спектра (ЭДС) для тонких биологических образцов.
  • GB/T 25185-2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах контроля и коррекции заряда.

SCC, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • 11/30230635 DC BS ISO 16129. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
  • 09/30191895 DC BS ISO 10810. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
  • 10/30212265 DC BS ISO 14701. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
  • 10/30199175 DC BS ISO 16243. Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

Association Francaise de Normalisation, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • NF X21-071:2011 Химический анализ поверхности - Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по анализу.
  • NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхностей - регистрация и отчетность данных рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
  • NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
  • NF X21-061:2008 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Определение латерального разрешения.
  • NF X21-055:2006 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • ASTM E996-94(1999) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • ASTM E1015-90 Методы регистрации спектров в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • ASTM E1621-21 Стандартное руководство по рентгеноэмиссионному спектрометрическому анализу
  • ASTM E1621-05 Стандартное руководство по рентгеноэмиссионному спектрометрическому анализу
  • ASTM E1588-10e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
  • ASTM D5381-93(1998) Стандартное руководство по рентгенофлуоресцентной (РФА) спектроскопии пигментов и наполнителей
  • ASTM STP 485-1971 Энергодисперсионный рентгеновский анализ
  • ASTM D5381-93(2003) Стандартное руководство по рентгенофлуоресцентной (РФА) спектроскопии пигментов и наполнителей
  • ASTM E995-16 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • ASTM E1085-95(2000) Стандартный метод рентгеноэмиссионного спектрометрического анализа низколегированных сталей
  • ASTM E1085-95(2004) Стандартный метод рентгеноэмиссионного спектрометрического анализа низколегированных сталей
  • ASTM E1085-95(2004)e1 Стандартный метод рентгеноэмиссионного спектрометрического анализа низколегированных сталей
  • ASTM E322-96e1 Стандартный метод рентгеноэмиссионного спектрометрического анализа низколегированных сталей и чугунов
  • ASTM E996-04 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • ASTM E996-10 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • ASTM E572-02a(2006) Стандартный метод испытаний для анализа нержавеющих и легированных сталей методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии
  • ASTM E572-02a Стандартный метод испытаний для анализа нержавеющих и легированных сталей методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии
  • ASTM E1361-90(1999) Стандартное руководство по коррекции межэлементных эффектов в рентгеноспектрометрическом анализе
  • ASTM E572-02a(2006)e1 Стандартный метод испытаний для анализа нержавеющих и легированных сталей методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии
  • ASTM E572-94(2000) Стандартный метод испытаний для рентгеноэмиссионного спектрометрического анализа нержавеющей стали

Professional Standard - Nuclear Industry, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • EJ/T 805-1993 Источники фотонов низкой энергии для рентгенофлуоресцентного анализа

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • JSA JIS G 1256 AMD 1 Железо и сталь - Рентгеновская флуоресцентная спектрометрия
  • JSA JIS G 1256 Рентгенофлуоресцентная спектрометрия железа и стали
  • JIS G 1256:1997 Железо и сталь. Метод рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа.
  • JIS M 8205:2000 Железные руды. Рентгенофлуоресцентный спектрометрический анализ
  • JIS R 2216:2005 Методы рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа огнеупорных изделий
  • JIS H 1292:1997 Метод рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа меди и медных сплавов
  • JIS H 1287:2015 Никель и никелевые сплавы. Методы рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа.
  • JIS G 1256 AMD 1:2010 Железо и сталь. Метод рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа (поправка 1)
  • JIS G 1351:2006 Ферросплавы -- Метод рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа.
  • JIS K 0152:2014 Химический анализ поверхности.Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • JIS H 1631:2008 Титановые сплавы. Метод рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа.
  • JIS G 1256 AMD 2:2013 Железо и сталь. Метод рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа (Поправка 2)
  • JIS K 0145:2002 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал.
  • JIS G 1351:1987 Метод рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа ферросплавов
  • JIS H 1669:1990 Метод рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа циркониевых сплавов

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • KS D ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности-Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры-Линейность шкалы интенсивности
  • KS D ISO 21270-2020 Химический анализ поверхности-Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры-Линейность шкалы интенсивности
  • KS D ISO 21270-2005(2020) Химический анализ поверхности-Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры-Линейность шкалы интенсивности
  • KS D 1655-2008(2024) Метод рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа железа и стали
  • KS D 2710-2019 Методы рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа феррониобия
  • KS D 1654-2003(2016) Общие правила рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа железа и стали.
  • KS D 1654-2021 Общие правила рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа железа и стали.
  • KS D ISO 15472-2003(2023) Химический анализ поверхности. Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр. Калибровка энергетической шкалы.
  • KS D 1654-1993 Общие правила рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа железа и стали
  • KS D ISO 15470-2005(2020) Химический анализ поверхности-Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия-Описание выбранных параметров работы прибора
  • KS D 1655-1993 Метод рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа железа и стали
  • KS D 1898-2019 Медные сплавы. Методы рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа.
  • KS M 0017-2020 Общие правила рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа
  • KS M 0017-1995 Общие правила рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа
  • KS D 1655-2019 Метод рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа железа и стали
  • KS D ISO 15470-2020 Химический анализ поверхности-Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия-Описание выбранных параметров работы прибора
  • KS L 3316-1988 Способ рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа огнеупорных изделий
  • KS L 3316-1998 Способ рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа огнеупорных изделий
  • KS D 1686-2011(2021) Метод рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа ферросплавов
  • KS L 3316-2014(2019) Способ рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа огнеупорных изделий
  • KS D 1686-2021 Метод рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа ферросплавов
  • KS L 3316-2014 Способ рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа огнеупорных изделий
  • KS L 3316-2019 Способ рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа огнеупорных изделий
  • KS D ISO 15472:2003 Химический анализ поверхности-Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры-Калибровка энергетических шкал
  • KS E 3076-2017 Методы рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа кварцевого камня и кварцевого песка
  • KS E 3076-2022 Методы рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа кварцевого камня и кварцевого песка
  • KS D ISO 15472-2003(2018) Химический анализ поверхности — рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — коррекция калибровки по энергии
  • KS D ISO 19318-2005(2020) Химический анализ поверхности – рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
  • KS M 0043-2009 Общие правила рентгенодифрактометрического анализа
  • KS D ISO 19319-2005(2020) Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
  • KS M 0017-2010 Общие правила рентгенофлуоресцентного спектрометрического анализа
  • KS L 3316-2009 Способ рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа огнеупорных кирпичей и огнеупорных растворов
  • KS D ISO 19318-2020 Химический анализ поверхности – рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
  • KS D 2597-1996(2021) Метод рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа циркония и циркониевых сплавов

Professional Standard - Energy and Power Planning, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • DL/T 1151.22-2012 Аналитические методы накипи и продуктов коррозии на электростанциях. Часть 22. Стандартные методы испытаний рентгенофлуоресцентной спектрометрии и рентгеновской дифракции.
  • DL/T 1151.22-2023 Методы анализа накипи и продуктов коррозии на тепловых электростанциях. Часть 22. Длинноволновая дисперсионная рентгенофлуоресцентная спектрометрия и рентгеновская дифракция.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • GB/T 22571-2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал.

Standard Association of Australia (SAA), Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • AS ISO 15472:2006 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
  • AS ISO 15470:2006(R2016) Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • AS ISO 15470:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • GB/T 36401-2018 Химический анализ поверхности — рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — отчет о результатах анализа тонких пленок.
  • GB/T 41073-2021 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.

Gosstandart of Russia, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • GOST R 55080-2012 Чугун. Метод рентгенофлуоресцентного (РФА) анализа.
  • GOST 28033-1989 Сталь. Метод рентгенофлуоресцентного анализа
  • GOST 16865-1979 Рентгеновский аппарат для структурного и спектрального анализа. Понятия и определения

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • YB/T 4177-2008 Определение химического состава оленя методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии.

Professional Standard - Machinery, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • JB/T 11145-2011 Рентгенофлуоресцентный спектрометр
  • JB/T 9401-1999 Рентгеновская трубка для флуоресцентного анализа с боковым окном

Group Standards of the People's Republic of China, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • T/CSTM 01199-2024 Многослойная металлическая пленка-Метод измерения и анализа слоистой структуры-Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

PT-IPQ, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • E E 14-1971 Рентгеноструктурный анализ

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • DB44/T 1602-2015 Метод анализа состава камня - рентгенофлуоресцентная спектрометрия.

Professional Standard - Agriculture, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

工业和信息化部/国家能源局, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • JB/T 12962.2-2016 Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр. Часть 2: Элементный анализатор.

Professional Standard - Electron, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

  • SJ/T 10458-1993 Стандартное руководство по обращению с образцами в оже-электронной спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Association of German Mechanical Engineers, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

    SE-SIS, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

    • SIS SS IEC 573:1986 Рентгеновское оборудование. Измерение коэффициента преобразования электрооптических усилителей рентгеновского изображения.

    VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи

    • VDI/VDE 5575 BLATT 4-2018 Roentgenoptische Systeme - Roentgenspiegel und Roentgenspiegelsysteme - Totalreflexions- und Multischichtspiegel

      Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Рентгеновская спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, рентгеновский анализ и сканирование, энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный анализ и энергодисперсионный рентгеноструктурный анализ, Общие правила методов рентгенофотоэлектронной спектроскопии анализа, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Рентгеноструктурный анализ и рентгеноструктурный анализ, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Анализ образцов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, Электронная и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновский рентгеновский, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновские лучи, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Количественный анализ, Детектирующий анализ рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и масс-спектрометрия, Фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновская спектроскопия, Подготовка образцов для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, «Рентгенофотоэлектронный спектроскопический анализ».

     




    ©2007-2024 KPT-bj.net, Все права защищены.