IEC 60749:2002
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний

Стандартный №

IEC 60749:2002

Дата публикации

2002

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

снять со счета 2002-04

Последняя версия

IEC 60749:2002

заменить на

IEC 60749-6:2002 IEC 60749-9:2002 IEC 60749-11:2002 IEC 60749-13:2002 IEC 60749-12:2002 IEC 60749-1:2002 IEC 60749-8:2002 IEC 60749-31:2002 IEC 60749-32:2002 IEC 60749-22:2002 IEC 60749-3:2002 IEC 60749-7:2002 IEC 60749-10:2002 IEC 60749-4:2002 IEC 60749-

сфера применения

В настоящем международном стандарте перечислены методы испытаний, применимые к полупроводниковым устройствам (дискретным устройствам и интегральным схемам), из которых можно сделать выбор. Однако для устройств без полостей могут потребоваться дополнительные методы испытаний. П р и м е ч а н и е — Бесполое устройство — это устройство, в котором корпус или герметизирующий материал находится в тесном контакте со всеми открытыми поверхностями активного элемента, и в конструкции устройства не предусмотрено пустое пространство. В этом стандарте, где это возможно, учтен стандарт IEC 60068. Целью этого стандарта является установление единых предпочтительных методов испытаний с предпочтительными значениями уровней нагрузки для оценки экологических свойств полупроводниковых устройств. В случае противоречия между настоящим стандартом и соответствующей спецификацией, последняя имеет преимущественную силу.

IEC 60749:2002 История

• 2002 IEC 60749:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний
• 2001 IEC 60749:1996/AMD2:2001 Поправка 2. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний
• 2000 IEC 60749:1996/AMD1:2000 Поправка 1. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний
• 1996 IEC 60749:1996 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний
• 1993 IEC 60749:1984/AMD2:1993 Поправка 2 - Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний.
• 1991 IEC 60749:1984/AMD1:1991 Поправка 1 - Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний.
• 1984 IEC 60749:1984 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний

стандарты и спецификации