IEC 60749-7:2002
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.

Стандартный №

IEC 60749-7:2002

Дата публикации

2002

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

снять со счета

быть заменен

IEC 60749-7:2002/COR1:2003

Последняя версия

IEC 60749-7:2011

сфера применения

Целью данной части IEC 60749 является испытание и измерение содержания водяного пара и других газов в атмосфере внутри металлического или керамического герметично закрытого устройства. Он применим к полупроводниковым устройствам, запечатанным таким образом, но обычно используется только для приложений с высокой надежностью, таких как военная или аэрокосмическая промышленность. Он может быть разрушительным (методы 1 и 2) или неразрушающим (метод 3).

IEC 60749-7:2002 История

• 2011 IEC 60749-7:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.
• 2003 IEC 60749-7:2002/COR1:2003 Исправление 1. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.
• 2002 IEC 60749-7:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.

стандарты и спецификации