IEC 60749-11:2002
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры; Метод двухжидкостной ванны
- Стандартный №
- IEC 60749-11:2002
- Дата публикации
- 2002
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- быть заменен
- IEC 60749-11:2002/COR1:2003
- Последняя версия
- IEC 60749-11:2002/COR2:2003
- заменять
- IEC 47/1535A/CDV:2000 IEC 47/1605/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62185:2000
- сфера применения
- Эта часть IEC 60749 определяет метод испытаний с быстрым изменением температуры и метод двухжидкостной ванны. Когда оба метода испытаний выполняются в рамках квалификации устройства, результаты циклического изменения температуры воздуха в воздухе имеют приоритет над этим методом испытаний с использованием двухжидкостной ванны. Этот метод испытаний также можно использовать с меньшим количеством циклов (например, от 5 до 10 циклов) для проверки эффекта погружения в нагретые жидкости, которые используются для очистки устройств. Этот тест применим ко всем полупроводниковым устройствам. Он считается разрушительным, если иное не указано в соответствующей спецификации. В целом, это испытание методом быстрого изменения температуры и двухжидкостной ванны соответствует IEC 60068-2-14, но из-за особых требований к полупроводникам применяются положения настоящего стандарта.
IEC 60749-11:2002 История
- 2003 IEC 60749-11:2002/COR2:2003 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры; Метод двухжидкостной ванны; Исправление 2
- 2003 IEC 60749-11:2002/COR1:2003 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры; Метод двухжидкостной ванны
- 2002 IEC 60749-11:2002 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры; Метод двухжидкостной ванны
Специальные темы по стандартам и нормам
стандарты и спецификации
IEC 60749-11:2002/COR2:2003 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры; Метод двухжидкостной ванны; Исправление 2
IEC 60749-11:2002/COR1:2003 полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры; Метод двухжидкостной ванны
DS/EN 60749-11/Corr.2:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны.
DS/EN 60749-11/Corr.1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны.
DS/EN 60749-11:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны.
DIN EN 60749-11:2003-04 полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры; Метод двухжидкостной ванны (IEC 60749-11:2002)
GSO IEC 60749-11:2014 приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны.
DANSK DS/EN 60749-11:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны.
DIN EN 60749-11:2003 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры; Метод двухжидкостной ванны (IEC