DS/EN 60749-11/Corr.2:2004
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны.

Стандартный №

DS/EN 60749-11/Corr.2:2004

Дата публикации

2004

Разместил

Danish Standards Foundation

Последняя версия

DS/EN 60749-11/Corr.2:2004

сфера применения

Эта часть IEC 60749 определяет метод испытаний с быстрым изменением температуры и метод двухжидкостной ванны. Когда оба метода испытаний выполняются в рамках квалификации устройства, результаты циклического изменения температуры воздуха в воздухе имеют приоритет над этим методом испытаний с использованием двухжидкостной ванны. Этот метод испытаний также можно использовать с меньшим количеством циклов (например, от 5 до 10 циклов) для проверки эффекта погружения в нагретые жидкости, которые используются для очистки устройств. Этот тест применим ко всем полупроводниковым устройствам. Он считается разрушительным, если иное не указано в соответствующей спецификации. В общем, это быстрое изменение температуры и метод двухжидкостной ванны.

DS/EN 60749-11/Corr.2:2004 История

• 2004 DS/EN 60749-11/Corr.2:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны.
• 2003 DS/EN 60749-11/Corr.1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны.
• 2003 DS/EN 60749-11:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации