Данный стандарт регламентирует методы механических и климатических испытаний полупроводниковых устройств. В части, охватываемой настоящим документом, описываются процедуры испытаний, связанные с быстрыми изменениями температуры, а также использование двух жидкостных ванн для выполнения данных испытаний. В документе приводятся подробные инструкции по подготовке образцов, условиям проведения испытаний, параметрам оборудования и методам оценки результатов. Стандарт применяется для определения влияния температурных перепадов на надежность и долговечность полупроводниковых компонентов, что позволяет обеспечить их соответствие установленным требованиям в различных условиях эксплуатации.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.