Испытание полупроводников на сдвиг
Испытание полупроводников на сдвиг, Всего: 24 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Испытание полупроводников на сдвиг, являются: Полупроводниковые приборы, Механические испытания, Испытание металлов.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Испытание полупроводников на сдвиг
- GB/T 41852-2022 Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур.
British Standards Institution (BSI), Испытание полупроводников на сдвиг
- BS EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Прочность матрицы на сдвиг.
- BS EN 60749-19:2003+A1:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Умереть прочность на сдвиг
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Испытание полупроводников на сдвиг
- KS C IEC 60749-19:2005 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.
International Electrotechnical Commission (IEC), Испытание полупроводников на сдвиг
- IEC 60749-19:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Испытание на прочность на сдвиг.
- IEC 60749-19:2003+AMD1:2010 CSV Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.
- IEC 60749-19:2003/AMD1:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Испытание на прочность на сдвиг.
Spanish Association for Standardization (UNE), Испытание полупроводников на сдвиг
- UNE-EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.
- UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Испытание полупроводников на сдвиг
- GB/T 4937.19-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.
Association Francaise de Normalisation, Испытание полупроводников на сдвиг
- NF EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность стружки на сдвиг.
- NF EN 60749-19/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность стружки на сдвиг.
American Society for Testing and Materials (ASTM), Испытание полупроводников на сдвиг
- ASTM D6128-00 Стандартный метод испытаний сыпучих материалов на сдвиг с использованием ячейки Дженике
- ASTM D6128-97 Стандартный метод испытаний сыпучих материалов на сдвиг с использованием ячейки Дженике
- ASTM D6128-06 Стандартный метод испытаний сыпучих материалов на сдвиг с использованием ячейки Дженике
- ASTM D6128-22 Стандартный метод испытаний сыпучих материалов на сдвиг с использованием прибора для испытания на сдвиг Jenike
- ASTM D6128-14 Стандартный метод испытаний сыпучих материалов на сдвиг с использованием ячейки Дженике
- ASTM D6128-16 Стандартный метод испытаний сыпучих материалов на сдвиг с использованием прибора для испытания на сдвиг Jenike
German Institute for Standardization, Испытание полупроводников на сдвиг
- DIN EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг (IEC 60749-19:2003); Немецкая версия EN 60749-19:2003 + исправление 2003-06.
CZ-CSN, Испытание полупроводников на сдвиг
Danish Standards Foundation, Испытание полупроводников на сдвиг
- DS/EN 60749-19/A1:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.
- DS/EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.
GSO, Испытание полупроводников на сдвиг
- GSO IEC 60749-19:2014 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.
Comitato Elettrotecnico Italiano, Испытание полупроводников на сдвиг
- CEI EN 60749-19/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.