NF EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность стружки на сдвиг. - Стандарты и спецификации PDF

NF EN 60749-19:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность стружки на сдвиг.

Стандартный №
NF EN 60749-19:2003
Дата публикации
2003
Разместил
Association Francaise de Normalisation
состояние
быть заменен
NF EN 60749-19/A1:2011
Последняя версия
NF EN 60749-19/A1:2011
 

Введение
Стандарт определяет методы испытаний для оценки устойчивости полупроводниковых器件 к механическим и климатическим воздействиям. В частности, он включает процедуры для определения способности изделий выдерживать воздействие срезающей силы. Методы испытаний регулируются в соответствии с общепринятыми нормами и обеспечивают воспроизводимость результатов. Стандарт служит основой для проведения испытаний и обеспечивает согласованность подходов в различных лабораториях. Он включает требования к оборудованию, условиям испытаний и критериям оценки результатов.

NF EN 60749-19:2003 История

  • 2011 NF EN 60749-19/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность стружки на сдвиг.
  • 2003 NF EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность стружки на сдвиг.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

NF EN 60749-19/A1:2011 приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность стружки на сдвиг. IEC 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы Механические и климатические методы испытаний Часть 19. Прочность стружки на сдвиг (Редакция 1.0) IEC 60749-19:2003/AMD1:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Испытание на прочность на сдвиг IEC 60749-22:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 22. Прочность соединения DIN EN 60749-12 E:2017-08 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 12. Вибрация переменной частоты IEC 60749-8:2002/COR2:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 8. Герметизация IEC 60749-1:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1. Общие положения IEC 60749-10:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар NF C96-009:1989 Электронные компоненты Полупроводниковые приборы Механические и климатические методы испытаний



© 2025. Все права защищены.