NF C96-009:1989 Электронные компоненты Полупроводниковые приборы Механические и климатические методы испытаний - Стандарты и спецификации PDF

NF C96-009:1989
Электронные компоненты Полупроводниковые приборы Механические и климатические методы испытаний

Стандартный №
NF C96-009:1989
Дата публикации
1989
Разместил
Association Francaise de Normalisation
Последняя версия
NF C96-009:1989
 

сфера применения
Электронные компоненты Полупроводниковые приборы Механические и климатические методы испытаний

NF C96-009:1989 История

  • 1989 NF C96-009:1989 Электронные компоненты Полупроводниковые приборы Механические и климатические методы испытаний

стандарты и спецификации

DIN EN 60749-6 E:2016-09 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре IEC 60749-5:2023 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры DIN EN IEC 60749-30 E:2019-09 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа DIN EN 60749-18 E:2018-10 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (суммарная доза DIN EN 60749-3 E:2017-05 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр DIN EN 60749-9 E:2016-09 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки DIN EN 60749-12 E:2017-08 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 12. Вибрация переменной частоты DIN EN 60749-5 E:2016-12 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры DIN EN 60749-44 E:2014-08 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 44. Метод испытания на эффект одиночного события (SEE), облученный нейтронным



© 2025. Все права защищены.