DIN EN 60749-44 E:2014-08
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 44. Метод испытания на эффект одиночного события (SEE), облученный нейтронным пучком, для полупроводниковых приборов
- Стандартный №
- DIN EN 60749-44 E:2014-08
- Дата публикации
- 1970
- Разместил
- /
- состояние
- быть заменен
- DIN EN 60749-44:2017
- Последняя версия
- DIN EN 60749-44:2017-04
DIN EN 60749-44 E:2014-08 История
- 2017 DIN EN 60749-44:2017-04 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 44. Метод однособытийного испытания (SEE) нейтронным лучом для полупроводниковых приборов (IEC 60749-44:2016); Немецкая версия EN 60749-44:2016
- 2017 DIN EN 60749-44:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 44. Метод однособытийного испытания (SEE) нейтронным лучом для полупроводниковых приборов (IEC 60749-44:2016); Немецкая версия EN 60749-44:2016
- 1970 DIN EN 60749-44 E:2014-08 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 44. Метод испытания на эффект одиночного события (SEE), облученный нейтронным пучком, для полупроводниковых приборов
