IEC 60749-19:2003/AMD1:2010
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Испытание на прочность на сдвиг.

Стандартный №: IEC 60749-19:2003/AMD1:2010
Дата публикации: 2010
Разместил: International Electrotechnical Commission (IEC)
состояние: быть заменен 2010-11
быть заменен: IEC 60749-19:2010
Последняя версия: IEC 60749-19:2010

сфера применения: ПОПРАВКА 1 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Испытание на прочность на сдвиг.

IEC 60749-19:2003/AMD1:2010 История

2010 IEC 60749-19:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Испытание на прочность на сдвиг.
2010 IEC 60749-19:2003/AMD1:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Испытание на прочность на сдвиг.
2003 IEC 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы Механические и климатические методы испытаний Часть 19. Прочность стружки на сдвиг (Редакция 1.0)

Специальные темы по стандартам и нормам

Окружающая среда 19. Лист изменений Полупроводниковая прочность на сдвиг Испытание полупроводников на сдвиг

стандарты и спецификации

IEC 60749-19:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Испытание на прочность на сдвиг. IEC 60749-22:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 22. Прочность соединения DIN EN 60749-12 E:2017-08 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 12. Вибрация переменной частоты IEC 60749-8:2002/COR2:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 8. Герметизация IEC 60749-1:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1. Общие положения IEC 60749-10:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар NF C96-009:1989 Электронные компоненты Полупроводниковые приборы Механические и климатические методы испытаний DIN EN 60749-5 E:2016-12 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры DIN EN 60749-6 E:2016-09 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре

© 2025. Все права защищены.