GB/T 41852-2022 (Англоязычная версия) Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур. - Стандарты и спецификации PDF

GB/T 41852-2022
Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур. (Англоязычная версия)

Стандартный №
GB/T 41852-2022
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2022
Разместил
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия
GB/T 41852-2022
 

сфера применения

Технические характеристики сердечника

Цилиндрические образцы, служащие стандартным испытательным сердечником, должны соответствовать требованиям к размерам: диаметр 1 мкм – 1 мм, а также заданным параметрам соотношения сторон. Испытательная система должна включать датчик нагрузки с минимальным усилием 0,1 мН и систему контроля условий окружающей среды с коэффициентом теплового расширения ΔL ≤ 5×10⁻⁶/K.


Сравнение методов испытаний

Параметры Испытание на изгиб Испытание на сдвиг
Угол лопасти 10-20° 0-15°
Диапазон соотношения сторон >1.2(нижний предел 0.5) Нет особых ограничений
Типичная формула напряжения σ=32Fl_c/(πD³) τ=4F/(πD²)

Основные технические требования к образцам

Критерии проектирования

  • Допуск диаметра ±2% | Постоянство длины CV≤5%
  • Расстояние между соседними элементами > 2(D+lc)
  • Шероховатость поверхности Ra < 0,1 мкм

Типичные данные

Если у цилиндра из материала SU8 l_c/D=1,2, прочность на изгиб достигает 58±3 МПа; для того же материала, когда l_c/D=0,8, угол контакта увеличивается до 45°, а прочность увеличивается до 72МПа (подробности см. в стандартных данных испытаний Приложения А)


Ключевые рекомендации по внедрению

  1. На этапе подготовки образца скорость осаждения обеспечивается на уровне ≤0,2 нм/с, а отклонение температуры отжига контролируется в пределах ±5°C.
  2. В лаборатории поддерживается уровень чистоты ISO5 и стабильность окружающей среды ΔRH ≤ 5%.
  3. Оборудование выполняет калибровку нулевой точки датчика силы каждые 24 часа с допуском <0,5% от полной шкалы.

GB/T 41852-2022 Ссылочный документ

  • IEC 62047-2:2006 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 2. Метод испытания тонкопленочных материалов на растяжение.

GB/T 41852-2022 История

  • 2022 GB/T 41852-2022 Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур.
Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

UNE-EN 62047-13:2012 устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур (одобрено BS IEC 62047-31:2019 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод испытания на четырехточечный изгиб для определения энергии межфазной адгезии слоистых МЭМС IEC 62047-31:2019 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 31. Метод испытания на четырехточечный изгиб для определения энергии межфазной адгезии DIN EN 62047-18 E:2011-06 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 18. Методы испытаний тонкопленочных материалов на изгиб BS IEC 62047-38:2021 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод испытания прочности сцепления пасты из металлического порошка в соединении МЭМС DIN EN 62047-17 E:2011-06 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 17. Метод испытания на выпучивание для измерения механических свойств тонких пленок DIN EN 62047-25 E:2014-05 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 25. Технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения прочности DIN EN 62047-21 E:2012-11 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных МЭМС-материалов IEC 62047-38:2021 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 38. Метод испытания прочности адгезии пасты из металлического порошка в соединении МЭМС DIN IEC 62047-13 E:2010 устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур (IEC



© 2025. Все права защищены.