CEI EN 60749-19/A1:2011
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.

Стандартный №

CEI EN 60749-19/A1:2011

Дата публикации

2011

Разместил

SCC

Последняя версия

CEI EN 60749-19/A1:2011

CEI EN 60749-19/A1:2011 История

• 2011 CEI EN 60749-19/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.