запрос Тема

запрос Тема, Всего: 22 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к запрос Тема, являются: Электромагнитная совместимость (ЭМС), Системы дорожного транспорта, Вращающиеся машины, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Транспорт.

Society of Automotive Engineers (SAE), запрос Тема

• SAE J1752/3-2003 Измерение излучений интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
• SAE J1752/3-1995 Измерение излучаемых излучений интегральных схем – метод ячеек Tem/Wideband Tem (Gtem); Tem Cell (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная Tem Cell (от 150 кГц до 8 ГГц)
• SAE J1752/3-2011 Измерение излучаемых излучений от интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
• SAE J1752/3-2017 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
• SAE J1752-3-2011 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц) @ Широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)

Professional Standard - Post and Telecommunication, запрос Тема

• YD/T 1690.2-2007 Внутренняя часть телекоммуникационного оборудования. Измерение электромагнитного излучения от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.

Gosstandart of Russia, запрос Тема

• GOST R 51048-1997 Электромагнитная совместимость технических средств. Генераторы электромагнитного поля с ТЭМ-ячейками. Технические требования и методы испытаний

Danish Standards Foundation, запрос Тема

• DANSK DS/EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.
• DS/EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.
• DS/EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.

Spanish Association for Standardization (UNE), запрос Тема

• UNE-EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (одобрено AENOR в июле 2011 г.).

GSO, запрос Тема

• BH GSO IEC 62132-2:2016 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.

British Standards Institution (BSI), запрос Тема

• BS EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Измерение радиационной невосприимчивости. Ячейка TEM и метод широкополосной ячейки TEM
• BS EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.

Association Francaise de Normalisation, запрос Тема

• NF EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосная ячейка TEM.
• NF C96-260-2*NF EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2: измерение излучаемых излучений, метод TEM-ячейки и широкополосный метод TEM-ячейки.

Comitato Elettrotecnico Italiano, запрос Тема

• CEI EN 62132-2:2012 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, запрос Тема

• EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.

IX-ICAO, запрос Тема

• ICAO 314-2008 Управление угрозами и ошибками (TEM) в управлении воздушным движением
• ICAO CIRCULAR 314-2008 Управление угрозами и ошибками (TEM) в управлении воздушным движением

International Electrotechnical Commission (IEC), запрос Тема

• IEC 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.

Lithuanian Standards Office , запрос Тема

• LST EN 62132-2-2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 62132-2:2010)

Другие:   Тема, стандартная температура, требования к температурному тесту, требования к температурному тесту, метод испытания Тэма, Ангстрем темп., временный запрос, требования к температурному тесту, в темпе, Требования к подготовке проб для испытаний на ТЭМ, Тематические требования, требования к подготовке проб, требования к подготовке проб, Требования к темпу тестирования, требования к тесту tem, подготовка проб, полюсный наконечник, просьба Тэма?, Общие требования к температурному тесту, запрос Тема.