электронный микроскоп вакуумный

электронный микроскоп вакуумный, Всего: 200 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к электронный микроскоп вакуумный, являются: Оптика и оптические измерения, Качество воздуха, Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Словари, Метрология и измерения в целом, Воски, битумные материалы и другие нефтепродукты, Строительные материалы, Сварка, пайка и пайка, Образование, Защита от преступности, Электронные компоненты в сборе, Цветные металлы, Медицинское оборудование, Электронные компоненты в целом, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Винтовые резьбы, Крепежи, Полупроводниковые приборы, Самолеты и космические аппараты в целом, Системы и компоненты аэрокосмических жидкостей.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, электронный микроскоп вакуумный

GB/T 18873-2002 Общие характеристики просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) — количественный микроанализ рентгеновского энергодисперсионного спектра (ЭДС) для тонких биологических образцов.
GB/T 28873-2012 Общее руководство по сканирующей электронной микроскопии окружающей среды для определения биологических эффектов на топографию, вызванных наночастицами
GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB/T 22058-2008 Микроскопы-Маркировка стереомикроскопов
GB/T 28044-2011 Общее руководство по методу обнаружения биологического действия наноматериалов с помощью просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ)
GB/T 9246-2008 Микроскопы.Окуляры(окуляры)
GB/T 2609-2015 Микроскопы.Цели
GB/T 9246-1996 Микроскопы--Окуляры (окуляры)
GB/T 2609-1996 Микроскоп – Цели
GB/T 2609-2006 Микроскоп.Цели
GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 9247-1996 Микроскоп-Конденсаторы
GB/T 9247-2008 Микроскопы-Конденсаторы
GB/T 18873-2008 Общее руководство по трансмиссионному электронному микроскопу (ТЕМ) – рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для количественного микроанализа тонких биологических образцов
GB 9246-1988 Микроскопы. Серии окуляров (окуляров).
GB 2609-1981 Объектив для серии микроскопов
GB/T 27668-2023 Терминология световой микроскопии микроскопа

Professional Standard - Petroleum, электронный микроскоп вакуумный

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), электронный микроскоп вакуумный

JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 2400:2010 Микроскопы. Жидкости иммерсионные для световой микроскопии.
JIS B 7148:1992 Окуляры для микроскопов
JIS B 7150:1993 Микрометрические микроскопы
JIS K 2400 AMD 1:2015 Микроскопы. Иммерсионные жидкости для световой микроскопии (поправка 1)
JIS B 7147:1993 Объективы биологического микроскопа
JIS B 7141:1994 Микроскоп. Резьба для объективов.
JIS B 7141:2003 Микроскоп. Резьба для объективов.

Professional Standard - Machinery, электронный микроскоп вакуумный

JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 7398.13-1994 Предметы для микроскопов и биологических микроскопов
JB/T 7398.3-1994 Резьба объектива микроскопа

International Organization for Standardization (ISO), электронный микроскоп вакуумный

ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO/DIS 25498:2024 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
ISO 8036:2015 Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 19214:2024 Микролучевой анализ — Аналитическая электронная микроскопия — Метод определения видимого направления роста нанокристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 9344:2011 Микроскопы - Сетки для окуляров
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO/PRF 19012-4:2024 Микроскопы
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 21073:2019 Микроскопы — Конфокальные микроскопы — Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для получения биологических изображений
ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 19012-2:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 2. Хроматическая коррекция.
ISO 10312:1995 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.

GSO, электронный микроскоп вакуумный

OS GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BH GSO ISO 25498:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
OS GSO ISO 15932:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
GSO ISO 15932:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
BH GSO ISO 15932:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
OS GSO ISO 8036:2015 Оптика и фотоника. Микроскопы. Жидкости иммерсионные для световой микроскопии.
GSO ISO 8036:2015 Оптика и фотоника. Микроскопы. Жидкости иммерсионные для световой микроскопии.
GSO ISO 10312:2015 Воздух окружающий. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
OS GSO ISO 9344:2015 Микроскопы. Сетки для окуляров.

British Standards Institution (BSI), электронный микроскоп вакуумный

BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
24/30479937 DC BS ISO 25498 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
BS ISO 19214:2024 Микролучевой анализ. Аналитический электронный микроскоп. Метод определения видимого направления роста нанокристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
BS ISO 10934:2020 Микроскопы. Словарь по световой микроскопии
18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS ISO 19012-2:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Хроматическая коррекция
BS ISO 19012-4:2024 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Поляризационные характеристики
BS ISO 8036:2015 Отслеживаемые изменения. Микроскопы. Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
BS ISO 19012-2:2010 Оптика и фотоника. Обозначение объективов микроскопа. Хроматическая коррекция
BS 7012-10.2:1997 Световые микроскопы. Минимальные требования к стереомикроскопам. Высокопроизводительные микроскопы.
24/30474499 DC BS ISO 19214 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов методом просвечивающей электронной микроскопии
BS ISO 11884-2:2007 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Высокопроизводительные микроскопы
BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
BS 7012-14:1997 Световые микроскопы. Маркировка стереомикроскопов
19/30387825 DC BS ISO 10934. Микроскопы. Словарь по световой микроскопии
BS ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Стереомикроскопы общего назначения.
BS ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
24/30466813 DC BS ISO 10934 Микроскопы. Словарь световой микроскопии
BS 7012-10.1:1998 Световые микроскопы. Минимальные требования к стереомикроскопам. Стереомикроскопы общего назначения.
BS ISO 19012-1:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Ровность поля/План
BS 7012-12:1997 Световые микроскопы. Эталонная система микроскопии поляризованного света
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BS 7012-4:1989 Световые микроскопы. Спецификация объективов и резьбы револьверной головки микроскопа.
BS ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
BS ISO 19012-3:2015 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Спектральное пропускание
BS ISO 9344:2011 Микроскопы. Сетки для окуляров
BS ISO 9344:2016 Микроскопы. Сетки для окуляров
BS ISO 21073:2019 Микроскопы. Конфокальные микроскопы. Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для биологической визуализации

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), электронный микроскоп вакуумный

KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-2019 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS B 5601-1995(2021) Микрометрические микроскопы
KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS B 5601-1995 Микрометрические микроскопы
KS B 5601-2021 Микрометрические микроскопы
KS I ISO 10312-2008(2018) Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод прямой просвечивающей электронной микроскопии
KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS I ISO 10312:2008 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
KS B ISO 19012-1:2011 Оптика и фотоника. Назначение объективов микроскопа. Часть 1. Неравномерность поля/План.
KS B ISO 19012-1:2016 Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
KS I ISO 13794:2008 Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
KS L 2010-2009(2019) Стекла для микроскопа
KS B ISO 11884-2-2011(2021) Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS D 2714-2021 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS B 5615-1997 Объективы биологического микроскопа
KS B 5615-2016(2021) Объективы биологического микроскопа
KS B 5617-2013 Предметный микрометр для биологического микроскопа
KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS B 5615-2016 Объективы биологического микроскопа
KS B ISO 11884-2-2011(2016) Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS B 5616-1981 Окуляры для биологических микроскопов
KS B 5617-1993 Предметный микрометр для биологического микроскопа
KS B 5616-2013 Окуляры для биологических микроскопов
KS B 5615-2021 Объективы биологического микроскопа
KS B 5616-2023 Окуляры для биологических микроскопов
KS B 5616-2018 Окуляры для биологических микроскопов
KS B ISO 11884-2:2011 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.

Association Francaise de Normalisation, электронный микроскоп вакуумный

NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
NF ISO 13794:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, электронный микроскоп вакуумный

JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

Professional Standard - Education, электронный микроскоп вакуумный

JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, электронный микроскоп вакуумный

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Group Standards of the People's Republic of China, электронный микроскоп вакуумный

T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, электронный микроскоп вакуумный

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

Association of German Mechanical Engineers, электронный микроскоп вакуумный

DVS 2803-1974 Электронно-лучевая сварка в микроскопии (обзор)

SCC, электронный микроскоп вакуумный

06/30128226 DC ISO 22493. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
12/30245653 DC BS ISO 15932. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарный запас
AENOR UNE 1059:1956 Микрофотокопия.
13/30203227 DC BS ISO 13083. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения сканирующей микроскопии сопротивления растеканию и сканирующей емкостной микроскопии

Military Standards (MIL-STD), электронный микроскоп вакуумный

DOD A-A-54873-1993 КОРОБКИ, ПРЕДМЕТНЫЕ ПРЕДМЕТЫ ДЛЯ МИКРОСКОПА, ПЛАСТИКОВЫЕ
DOD A-A-53609-1988 ЩИПЦЫ, ПОКРЫТИЕ МИКРОСКОПА
DOD A-A-51689-1986 ДИСК, МИКРОМЕТР, ОКУЛЬ МИКРОСКОПА

Bureau of Indian Standards, электронный микроскоп вакуумный

IS 13108-2019 Оптика и фотоника — Микроскопы — Иммерсионные жидкости для световой микроскопии (вторая редакция)

Professional Standard - Public Safety Standards, электронный микроскоп вакуумный

GA/T 1662-2019 Техническая спецификация метода микроволнового разложения, вакуумной фильтрации и микроскопии для судебно-медицинской экспертизы диатомовых водорослей

American Society for Testing and Materials (ASTM), электронный микроскоп вакуумный

ASTM D5756-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и косвенного анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на массовую концентрацию асбеста
ASTM D5756-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и косвенного анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на массовую концентрацию асбеста
ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM D5755-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
ASTM D5755-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
ASTM D5756-02(2008) Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии для массовой поверхностной нагрузки асбеста
ASTM D5755-09 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
ASTM D5755-09(2014)e1 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
ASTM D5755-03 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста

Professional Standard - Medicine, электронный микроскоп вакуумный

YY 1296-2016 Оптические и фотонные хирургические микроскопы Фотоопасность офтальмологических хирургических микроскопов
YY 0067-1992 микроциркуляционный микроскоп
YY 0067-2007 Микроциркуляционные микроскопы

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), электронный микроскоп вакуумный

IPC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов
IPC TM-650 2.6.22-1995 Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, электронный микроскоп вакуумный

GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

HU-MSZT, электронный микроскоп вакуумный

MNOSZ 5534-1956 световое зеркало микроскопа
MNOSZ 15577-1953 свет микроскопа

Gosstandart of Russia, электронный микроскоп вакуумный

GOST 21006-1975 Электронные микроскопы. Термины, определения и буквенные обозначения

German Institute for Standardization, электронный микроскоп вакуумный

DIN 58272:2009 Медицинские инструменты - Микроскопические щипцы, мелкий рисунок.
DIN 58272:2016 Медицинские инструменты - Микроскопические щипцы, мелкий рисунок.
DIN 58272:1983 Медицинские инструменты; микроскопические щипцы, мелкий рисунок
DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)

机械工业部, электронный микроскоп вакуумный

JB/T 8230.9-1995 Серия окуляров для микроскопов
JB/T 8230.2-1995 Серия объективов для микроскопов

国家食品药品监督管理局, электронный микроскоп вакуумный

YY/T 0067-2007 микроциркуляционная микроскопия

International Electrotechnical Commission (IEC), электронный микроскоп вакуумный

IEC PAS 62191:2000 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, электронный микроскоп вакуумный

DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

国家能源局, электронный микроскоп вакуумный

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

American Society of Mechanical Engineers (ASME), электронный микроскоп вакуумный

ASME B1.11-1958 Исправления в резьбе объектива микроскопа - июль 1972 г.
ASME B1.11-1958(R2016) Исправления в резьбе объектива микроскопа - июль 1972 г.

American National Standards Institute （ANSI), электронный микроскоп вакуумный

ANSI B1.11-1958 Резьба объектива микроскопа
ANSI/ASME B1.11-1958 Резьба объектива микроскопа

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, электронный микроскоп вакуумный

JEDEC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов в капсулах

Defense Logistics Agency, электронный микроскоп вакуумный

DLA A-A-52040 VALID NOTICE 2-2007 СТЕРЕОСКОПЫ, ОБЪЕКТИВЫ, ИНТЕРПРЕТАЦИЯ АЭРОФОТОГРАФИЙ (КАРМАННЫЕ)
DLA A-A-52040 VALID NOTICE 1-2001 СТЕРЕОСКОПЫ, ОБЪЕКТИВЫ, ИНТЕРПРЕТАЦИЯ АЭРОФОТОГРАФИЙ (КАРМАННЫЕ)

Society of Automotive Engineers (SAE), электронный микроскоп вакуумный

SAE ARP598C-2003 (R) Аэрокосмическая микроскопия определения размеров и подсчета твердых частиц в гидроэнергетических системах