Прочность на сдвиг стружки

Прочность на сдвиг стружки, Всего: 14 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Прочность на сдвиг стружки, являются: Полупроводниковые приборы.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Прочность на сдвиг стружки

• GB/T 4937.19-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.

Spanish Association for Standardization (UNE), Прочность на сдвиг стружки

• UNE-EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.
• UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.

German Institute for Standardization, Прочность на сдвиг стружки

• DIN EN 60749-19:2011-01 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность штампа на сдвиг (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Немецкая версия EN 60749-19:2003 + A1:2010 / Примечание: DIN EN 60749-19 (2003-10) остается действительным наряду с этим стандартом до 01 сентября 2013 г.
• DIN EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг (IEC 60749-19:2003); Немецкая версия EN 60749-19:2003 + исправление 2003-06.
• DIN EN 60749-19/A1 E:2009 Проект документа. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг (IEC 47/2016/CDV:2009); Немецкая версия EN 60749-19:2003/FprA1:2009

Danish Standards Foundation, Прочность на сдвиг стружки

• DS/EN 60749-19/A1:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.
• DS/EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.
• DANSK DS/EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.
• DANSK DS/EN 60749-19/A1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.

SCC, Прочность на сдвиг стружки

• CEI EN 60749-19/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.

International Electrotechnical Commission (IEC), Прочность на сдвиг стружки

• IEC 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы Механические и климатические методы испытаний Часть 19. Прочность стружки на сдвиг (Редакция 1.0)

Lithuanian Standards Office , Прочность на сдвиг стружки

• LST EN 60749-19+AC-2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг (IEC 60749-19:2002)
• LST EN 60749-19+AC-2003/A1-2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг (IEC 60749-19:2003/A1:2010)

Другие:   Прочность на сдвиг, Прочность на сдвиг, Измерение прочности на сдвиг, Испытание на прочность на сдвиг, прочность металла на сдвиг, динамика прочности на сдвиг, Образец для испытания на прочность на сдвиг, условие прочности на сдвиг, прочность асфальта на сдвиг, Испытание на прочность на сдвиг, прочность на продольный сдвиг, прочность на плоский сдвиг, Испытание на прочность на сдвиг, прочность стружки, Прочность на сдвиг Предел прочности на растяжение, Прочность на сдвиг стружки, Прочность на сдвиг стружки, Прочность на сдвиг Предел прочности на растяжение.